用直流磁控溅射法结合掩模板控制膜厚的方法在Si衬底上制备了工作于6.8~11.0 nm波段的［Mo/B4C］60横向梯度多层膜。利用X射线掠入射反射测试以及同步辐射反射率测试对梯度多层膜的结构及性能进行了测试。X射线掠入射反射测试结果表明, 多层膜周期厚度沿着长轴方向从4.39 nm逐渐增加到7.82 nm, 周期厚度平均梯度为0.054 nm/mm。对横向梯度多层膜沿长轴方向每隔5 mm进行了一次同步辐射反射率测试, 结果显示, 横向梯度多层膜在45°入射角下的反射率约为10％, 反射峰的半高全宽介于0.13 nm到0.31 nm之间。

描述了在北京同步辐射装置(BSRF)4B7B软X射线上，通过多种方法进行高次谐波抑制,采用复合滤片消除高能区低能X射线等性能改进方法使光源的高次谐波含量小于1%、能量分辨优于3000，无杂散光。在4B7B光束线上开展了X 射线探测器（XRD）灵敏度、平面镜反射率和滤片透射率的标定方法研究，XRD灵敏度标定不确定度优于3%，平面镜反射率标定不确定度小于3.5%，滤片透射率标定不确定度优于1%。

同步辐射光源中的高次谐波会使透射光栅衍射效率标定精度变差。为了校正光源中的高次谐波对透射光栅衍射效率标定的影响，提出了一种光源存在弱谐波情况下的透射光栅衍射效率标定方法，通过使用谐波X射线的衍射效率修正基波衍射效率标定中谐波的影响，从而得到更为准确的透射光栅衍射效率。使用该标定方法在北京同步辐射光源上开展了透射光栅相对衍射效率标定工作。实验结果表明: 在100~800 eV存在高次谐波能段，修正后透射光栅一级与零级的相对衍射效率与理论模拟结果吻合较好，修正后光栅二级与一级的相对衍射效率更接近理论模拟结果，但与理论模拟结果仍有较大偏差，该偏差主要来源光栅较弱的二级衍射。

在北京同步辐射光源4B7B实验站上，采用透射光栅配X射线电荷耦合元件(CCD)的方法对单色光进行了检验，在优化高次谐波抑制方法后，开展了X射线CCD的灵敏度标定实验研究；在标定数据处理过程中，提出了等效曝光时间的概念，修正了快门开合造成的曝光时间误差。标定实验获得了100~1 500 eV能区CCD的灵敏度，补充了300~600 eV能区CCD灵敏度标定数据，验证了简化模型的正确性。

利用北京同步辐射装置4B7B束线, 在2.1～5.9 keV能区, 对“强光一号”加速器Z箍缩实验中常用的Al和Au阴极X射线二极管进行了谱响应标定。对比了不同阴极材料(Au和Al)、加工方式(蒸镀Al和机械加工固体Al)及使用条件(参与实验发次)对探测器谱响应分散性及退化程度的影响。长期储存后的镀Au阴极仍有较好的谱响应一致性, 但灵敏度退化明显, 比文献报道新鲜Au阴极数据低70%以上, 使用中还会进一步降低。Al阴极在保存和使用中的灵敏度退化相对较轻。新鲜的固体Al阴极谱响应分散性较小, 灵敏度较文献报道数据略高, 使用过10～40发次并保存9个月后灵敏度平均下降约20％～30%。镀Al阴极的谱响应分散性较大, 相对偏差可达20%。初步探讨了定期更换以减轻灵敏度退化影响的可行性。

在北京同步辐射装置(BSRF)上建立了国内唯一的软X射线光学实验平台,主要用于惯性约束聚变(ICF)激光等离子体诊断用探测元器件的精密标定技术研究。硬件方面主要包括两条不同能区的单色聚焦X射线光束线(能量范围0.05-6 keV)、高精度软X射线综合测试分析装置、软X射线标准探测器电离室系统及若干探测器标定装置等,软X射线(0.05-1.5 keV)和中能X射线(1.2-6 keV)两条光束线各项性能指标均达到或优于原设计指标。一大批ICF实验用的探测器在实验平台上进行了标定,主要包括X射线探测器(XRD)、反射镜和多层膜、透射光栅、电荷耦合器件(CCD)等,还包括一些新的探测元器件,如:晶体、成像板等,这些探测元器件被用于ICF实验中,取得大量的成果。该平台在光学、天文、材料、计量和Z箍缩实验等领域也得到了广泛的应用。

介绍了在“阳”加速器上使用的闪烁体功率计结构和测量参数,讨论了功率计在北京同步辐射装置上的标定实验,分析了标定结果及由此结果可能给最后实验结果带来的误差,并探讨了修正该误差可行的办法,利用 Dante谱仪测得的能谱对功率计测试结果进行修正。修正后,两套设备之间的测试结果差异由原来的30%以上降至15%以内。最后给出了利用软X光闪烁体功率计进行喷气Z箍缩等离子体辐射测量的结果,得到“阳”加速器上喷气Z箍缩负载产生的软X光辐射峰值功率为几十GW,能量产额数百J。

以北京同步辐射装置的4B7中能束线为光源,对RAP（邻苯二甲酸氢銣）晶体的积分衍射效率进行了实验标定.结果显示:晶体在不同能量段都得到了完整的衍射峰,扭摆曲线的光滑性和对称性较好,在偏离布喇格角以后衍射效率都迅速下降到本底量级.在2.1~5.8 keV范围内,晶体的积分衍射效率在1×10－4rad左右.

在北京同步辐射装置上，利用3W1B 束线得到了21°-B4C/Si，21°-B4C /Mo，10°-Cr/Ti，15°- B4C/W，10°- B4C/W以及6.86°-B4C/W等多层镜在50～1500 eV能段上的反射率标定曲线.分析了标定结果的不确定度，计算得到多层镜的积分衍射效率，并修正了标定结果.

介绍了用于阳加速器上Z箍缩内爆实验诊断的Dante谱仪的结构和通道配置,详细讨论了X射线二极管、掠入射平面反射镜和滤片等主要元器件的标定结果,分析了标定结果与理论计算发生偏差的原因,给出了喷气Z箍缩等离子体辐射的测量结果,X光辐射功率30-40 GW,能量约0.8 kJ,并与闪烁体光电管测量结果进行了比较,差异约20%。