中国工程物理研究院 激光聚变研究中心，四川 绵阳 621900
惯性约束聚变实验对数据测量精度有着很高的要求，诊断设备需要向绝对测量的方向发展，对标定提出了很高的要求。北京同步辐射装置（BSRF）提供了良好的标定光源，其光源特性，如高次谐波份额的数值研究，对标定工作和ICF精密诊断十分重要。通过测量BSRF上4B7B光束线的软X射线源上带有或不带有滤片的标准探测器的电流，研究了不同滤片对单色X射线的透射率曲线，并建立了拟合的理论透射率曲线。根据数据分析，计算出单色光源中二次谐波的比例。实验结果显示，二次谐波在软X射线能段主要集中在180~300 eV以及450~800 eV，所占份额大部分在15%以下，最大可达到25%左右。利用测量的高次谐波份额，开展了对平响应滤片透过率以及X射线二极管灵敏度的修正工作，修正后的结果和理论相符，极大地提高了诊断设备精密诊断能力。完整的理论模型和实验相互验证，说明基于滤片的高次谐波份额测量技术目前已经成熟并且具有广阔的应用前景。
惯性约束聚变 同步辐射 标定 高次谐波 inertial confinement fusion synchronous radiation calibration high-order harmonics 红外与激光工程
2020, 49(8): 20200072
同济大学 物理科学与工程系 精密光学工程技术研究所, 上海 200092
针对“水窗”波段(280~540 eV)对多层膜反射镜的应用需求, 在Ti的L吸收边(452.5 eV)附近, 优化设计了Co/Ti多层膜的膜系结构。计算了不同界面粗糙度条件下的反射率, 结果显示, 界面粗糙度对多层膜反射率有较大影响。采用直流磁控溅射方法在超光滑硅基片上制备了Co/Ti多层膜, 通过将氮气引入原有的溅射气体氩气中作为反应气体, 明显减小了制备的多层膜的界面粗糙度。利用X射线掠入射反射实验和透射电子显微镜测试了多层膜结构, 并在北京同步辐射装置(BSRF)3W1B实验站测量了不同氮气浓度下多层膜的反射率。结果显示, 氮气含量为5%的溅射气体制备的多层膜样品反射率最高, 即将纯氩气溅射制备得到的反射率9.5%提高到了12.0%。得到的结果表明, 将氮气加入反应溅射气体可以有效改善Co/Ti多层膜的性能。
Co/Ti多层膜 磁控溅射 反应溅射 同步辐射 反射率 Co/Ti multilayer film magnetron sputtering reactive sputtering synchronous radiation reflectivity
1 中国工程物理研究院激光聚变研究中心, 四川 绵阳 621900
2 中国科学院高能物理研究所, 北京 100049
3 中国科技大学国家同步辐射实验室, 安徽 合肥 230029
描述了在北京同步辐射装置(BSRF)4B7B软X射线上，通过多种方法进行高次谐波抑制,采用复合滤片消除高能区低能X射线等性能改进方法使光源的高次谐波含量小于1%、能量分辨优于3000，无杂散光。在4B7B光束线上开展了X 射线探测器（XRD）灵敏度、平面镜反射率和滤片透射率的标定方法研究，XRD灵敏度标定不确定度优于3%，平面镜反射率标定不确定度小于3.5%，滤片透射率标定不确定度优于1%。
X射线光学 同步辐射 标定 不确定度 光学学报
2014, 34(10): 1034002
1 中国工程物理研究院 激光聚变研究中心, 四川 绵阳 621900
2 中国科学院 高能物理研究所, 北京 100049
3 中国原子能科学研究院, 北京 102413
在北京同步辐射装置的4B7A中能X光束线上，光源能区为2.1~6.0 keV，能量分辨大于5000，高次谐波小于0.1%，光源强度大于109 光子/s。通过全能区多能点的透过率精确测量Ag样品质量厚度，然后采用Ag薄膜对单能X光子的透过率进行测量，给出了Ag薄膜在吸收边(3.4~3.9 keV)的衰减系数 。建立了Ag样品吸收边附近衰减系数同步辐射测量方法。通过不确定度分析给出衰减系数测量不确定度小于1％，填补了在该区间衰减系数的空白。
衰减系数 同步辐射 吸收边 不确定度 attenuation coefficient synchronous radiation absorption edges uncertainty 强激光与粒子束
2014, 26(7): 074006
1 中国工程物理研究院 激光聚变研究中心, 四川 绵阳 621900
2 中国科学院 高能物理研究所, 北京 100049
薄膜样品在实验研究领域要求样品的厚度测量精度非常高, 但由于样品质量小, 采用称重的方法, 测量精度较差。在北京同步辐射装置的中能(4B7A)和低能(4B7B)束线上(光源能区为0.1～6.0 keV, 能量分辨大于1 000), 采用材料对单能光子的透过率来确定样品的质量厚度, 通过不同能点的测量值进行不确定度分析, 提高测量精度, 降低不确定度。利用该方法开展了复合样品厚度的测量方法研究, 给出了有CH衬底的薄膜样品的厚度, 通过不确定度分析得出, 薄膜样品厚度的测量不确定度小于1％。
薄膜样品 同步辐射 厚度测量 测量不确定度 film sample synchronous radiation thickness measurement measurement uncertainty
中国科学技术大学 国家同步辐射实验室,合肥 230029
针对特定实验站调整光源点位置的要求,设计了合肥光源储存环束流闭轨局部调整和校正系统,介绍了该系统的工作原理、硬件组成、软件设计及运行结果,设计要求束流闭轨局部调整的最大幅度为1~2 mm,水平方向和垂直方向其余闭轨畸变均方根分别小于50和30 μm。校正系统采用轨道设定法作为束流闭轨局部调整和校正算法,由束流轨道测量系统、校正铁系统和控制系统组成。运行结果显示:水平和垂直方向分别调节2.0和1.5 mm,水平方向和垂直方向其余闭轨畸变均方根分别为45.14和27.62 μm。
同步辐射光源 束流闭轨 局部凸轨 校正 synchronous radiation light source beam closed orbit local bump adjustment
