中国计量学院 光学与电子科技学院，杭州 310018
在剥除涂覆层的单模光纤上熔成两个间距为25 mm的S型结构，构成双S型全光纤马赫-曾德干涉仪.入射光经过第一个S型结构时部分光被激发到包层，经过第二个S型结构时重新进入纤芯传播，S型结构中光纤的纤芯模和包层模耦合产生干涉.利用干涉光谱测量外界因素的响应并用于温度、折射率和微位移的测量.实验结果表明，温度、折射率和微位移的灵敏度分别为69 pm/℃，132.64 nm/RIU，－178 pm/μm，且具有很好的线性度.该传感结构为全光纤结构，制作简单，易于实现且成本低.
马赫-曾德干涉仪 温度 折射率 微位移 Mach-Zehnder interferometer Temperature Refractive index Micro displacement 光子学报
2016, 45(10): 1006002
