采用高温固相法制备系列红色荧光粉NazCa1-x-2y-zBiyMoO4∶Eu3+x+y(y， z=0， x=0.24， 0.26， 0.30， 0.34， 0.38； x=0.30， y=0.01， 0.02， 0.03， 0.04， 0.05， 0.06， 0.07， z=0； x=0.30， y=0.04， z=0.38)。 用X射线粉末衍射 (XRD)法测试了所制样品晶相结构。 采用荧光光谱仪对样品的发光性能进行了表征， 结果表明: 当Eu3+单掺杂量浓度x=0.30时， 荧光粉(Ca0.70MoO4∶Eu3+0.30)的发光强度最强； 当Eu3+-Bi3+共掺杂量浓度y=0.03时， 电荷迁移带(CTB) 强度达到最强， 而对于Eu3+特征发射峰， 当共掺杂浓度y<0.03时， 位于393 nm处的激发峰强度比464 nm强， 共掺浓度y>0.03时， 464 nm峰比393 nm峰强， 共掺浓度为y=0.04时， 393和464 nm处两峰位置强度都达到最强。 作为电荷补尝剂的Na2CO3掺入上述荧光粉中后， 荧光粉激发和发射强度明显地增强。 结果表明， 通过调节Bi3+/Eu3+掺杂比例可以改变位于近紫外光393 nm和蓝光区464 nm处激发光相对强度。

采用高温固相法制备了一系列样品Y2.95－xDyxAl5O12:Ce3+0.05(x＝0，0.59，1.18，1.77，2.36，2.95)。用X射线粉末衍射法测量了Y3Al5O12:Ce3+组成中Dy3+替代Y3+所造成的晶格膨胀，结果表明晶格膨胀与Dy3+替代量(x值)之间成线性关系。对样品的发射光谱分析表明Dy3+替代Y3+会造成发射峰的红移，且发射峰红移与x值之间成线性关系。全部样品在紫外光激发后均具有黄色长余辉，余辉时间随着x值的增加而减小。热释光谱测试表明样品中存在两种不同深度的陷阱能级，Dy3+的替代并不增加基质中的陷阱能级种类，但是可以降低基质中的陷阱能级深度，有利于常温下陷俘于陷阱中的电子的逃逸。