1 复旦大学 信息科学与工程学院 上海超精密光学制造工程技术研究中心, 上海 200433
2 中国工程物理研究院 电子工程研究所, 四川 绵阳 621999
3 中国科学院上海技术物理研究所 红外成像材料与器件重点实验室, 上海 200083
利用椭圆偏振光谱进行薄膜样品的测量数据分析拟合时, 薄膜厚度与介电常数通常具有一定的关联性。不同色散模型的选取也会对拟合结果产生明显的影响, 引起较大误差。介绍了唯一性检测在椭偏拟合中的实现方法。并以二氧化钛样品为例, 利用唯一性检测对比了不同色散模型、不同厚度、不同测量波段、不同入射角度时的唯一性检测结果。结果表明, 唯一性检测能够有效标定出椭偏测量和拟合过程中所产生的误差, 同时能够对不同色散模型进行量化对比, 提升拟合精度。
椭圆偏振光谱 唯一性检测 薄膜 二氧化钛 spectroscopic ellipsometry uniqueness test thin film titanium dioxide 红外与毫米波学报
2015, 34(6): 2015
1 复旦大学信息科学与工程学院上海超精密光学制造工程技术研究中心, 上海 200433
2 复旦大学信息科学与工程学院先进照明技术教育部工程研究中心, 上海 200433
光纤照明由于具有成本低、安全性高、便携性好和装饰性强等优势，已经逐渐进入了人们的视野。然而，现阶段的光源[特别是发光二极管(LED)]由于辐射发散角大，与照明光纤的耦合效率普遍较低。为了解决这个问题，根据全反射原理，设计并制作了一种LED照明光纤耦合器。经过实验验证，该耦合器具有聚光性强、耦合效率高、体积小、制备简便和成本低等优点，是一种能够有效提升LED光纤耦合效率的方式。
几何光学 发光二极管 照明光纤 耦合器 全反射 自由曲面
