作者单位
摘要
1 江南大学理学院光信息科学与技术系, 江苏 无锡 214122
2 中国科学院上海光学精密机械研究所 联合实验室, 上海 201800
在研究电荷耦合器件(CCD)饱和效应对PIE成像质量影响的基础上,提出了一种改进的重建算法。该方法可以从发生部分饱和的数据重建出准确的再现像。和现有的方法相比,此方法可以在保证分辨率不受影响的条件下,大幅度缩短数据采集时间,因此可显著降低对实验装置和样品稳定性的要求,对PIE方法的推广应用有重要的实际意义。
成像系统 相干衍射成像 相位恢复 显微成像 
光学学报
2013, 33(6): 0611001

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