1 空军工程大学 航空航天工程学院, 陕西 西安 710038
2 陕西华燕航空仪表有限公司, 陕西 汉中 723102
3 陆军航空兵学院 飞行理论系，北京 101123
针对使用灰度控制算法不能准确绘制端点不在像素中心点的直线的问题，结合Wu算法，提出了一种基于灰度控制的任意端点直线反走样算法。介绍了Wu算法思想和灰度控制反走样算法，对两种算法进行数学分析，提出灰度控制不能解决的问题及问题产生的后果。结合Wu算法提出了新的基于灰度控制的算法，新算法减少了距离计算和灰度转换的计算，同时解决了任意端点直线的反走样问题。对新算法的效率和反走样效果进行仿真计算。仿真结果表明，新算法比Wu算法效率更高，绘制直线所用时间平均减少33.91%；新算法比灰度控制算法绘制直线更准确，特别是在直线移动的过程中，有较好的动态显示效果。本文提出的新算法，效率较高，显示效果较好，具有很高的应用价值。
反走样 灰度控制 Wu算法 任意端点直线 anti-aliasing gray control Wu algorithm arbitrary-endpoint line
本文发展了一种激光-CCD衍射谱分析系统,利用衍射谱位相恢复方法测量非球面光学件的面形。本文的方法不需要产生非球面参考波前,这就避免了通常干涉方法测量非球面的特殊困难。
光学检测 衍射
导出了平面波在双折射介质表面的反射系数和透射系数公式。并发展了一种计算多层膜系统(其中若干膜层或基底是双折射材料)反射率随表面极坐标分布的公式和数值方法。
膜 双折射
根据光学衍射成像理论,建立了黑斑法测量光学系统杂光的杂光系数解析式.该解析式包括了被测系统的结构参数和测试条件两部分.并编制了计算程序,将计算值和测量结果进行了比较,两者较为一致.
杂光系数 黑斑法
