作者单位
摘要
1 广东工业大学 物理与光电工程学院,广州 510006
2 广东工业大学 机电工程学院,激光微纳加工研究中心,广州 510006
3 广东工业大学 实验教学部,广州 510006
为了在透明基板上制备出导电性能良好的微电路,研究了窄脉宽激光正向和背向选择性去除金属薄膜制备的微结构形貌特征,开展了纳秒激光选择性去除Cu薄膜(厚度为150 nm)的实验和温度场仿真研究,揭示了正、背面去除的烧蚀机理和材料的喷射机制。实验结果表明,当激光脉冲能量为0.270~0.542 μJ,扫描速度为2 mm/s时,激光诱导背向去除金属薄膜在加工质量方面优于正向加工,其去除几何精度高,轮廓边缘平整,几乎没有溅射。采用优化后的纳秒激光加工工艺参数,激光脉冲能量为0.403 μJ,扫描速度2 mm/s,扫描线间距为3 μm,制备出均匀分布的铜阵列图案。在相同参数下对玻璃基板上的铜薄膜背向选择性去除,得到具有良好导电性和粘附性的微电路。
窄脉宽激光 背面去除 温度场仿真 金属薄膜 微电路 Narrow pulse width laser Reverse removal Temperature field simulation Mental thin film Microcircuit 
光子学报
2023, 52(7): 0752306
赵明富 1,2曹利波 1,3宋涛 1,2刘帅 1[ ... ]杨鑫 1
作者单位
摘要
1 重庆理工大学电气与电子工程学院, 重庆 400054
2 电梯智能运维重庆市高校工程中心, 重庆 402260
3 光纤传感与光电检测重庆市重点实验室, 重庆 400054
三维点云快速点特征直方图(FPFH)特征提取的邻域半径采用预设固定值,导致特征描述具有随意性、不全面性、低效性等问题,点云配准整个过程自动化程度低、耗时长。针对该问题,提出一种三维点云配准中FPFH邻域半径自主选取算法。首先,计算多对点云圆周密度并且保留最大圆周半径;其次,设置迭代次数,根据迭代次数和每对点云最大圆周半径自动划分单次邻域半径,通过划分的邻域半径提取FPFH特征并用于采样一致性算法配准;最后,统计多对点云圆周密度及对应的最优邻域半径,使用多项式拟合法求出映射函数,形成FPFH特征提取优化算法。结果表明,所提算法能够根据点云圆周密度自动选取最佳邻域半径,有效降低了点云描述的不全面性和冗余度,在提高点云配准自动化程度的同时提高了点云配准速度和精度。
图像处理 邻域半径 快速点特征直方图 点云配准 采样一致性算法 多项式拟合 
激光与光电子学进展
2021, 58(6): 0610002
宋涛 1,2,*曹利波 1,3,*赵明富 1,2刘帅 1[ ... ]杨鑫 1
作者单位
摘要
1 重庆理工大学电气与电子工程学院, 重庆 400054
2 电梯智能运维重庆市高校工程中心, 重庆 402260
3 光纤传感与光电检测重庆市重点实验室, 重庆 400054
传统三维(3D)点云配准过程中存在配准误差高、计算量大及耗时长等问题,针对该问题,提出了一种3D点云中关键点的配准与优化算法。在关键点选取阶段,用边缘点检测算法剔除边缘关键点,以提高关键点特征描述的全面性和重复性,降低3D点云配准误差。在3D点云配准阶段,用K-维树(KD-tree)加速的最近邻算法和迭代最近点算法剔除粗配准结果中的误配准关键点,降低配准误差,提高3D点云配准的速度与精度。实验结果表明,本算法在不同点云数据下,均能获得良好的配准结果。与传统3D点云配准算法相比,本算法的平均配准速率提高了68.725%,平均配准精度提高了49.65%。
图像处理 关键点检测 边缘检测 三维重建 点云处理 误差优化 
激光与光电子学进展
2021, 58(4): 0415008
作者单位
摘要
1 重庆理工大学 电气与电子工程学院, 重庆 400054
2 电梯智能运维重庆市高校工程中心, 重庆 402260
3 光纤传感与光电检测重庆市重点实验室, 重庆 400054
针对同时定位与地图构建(SLAM)中的特征匹配关键环节, 提出一种融合特征点和特征区域的图像追踪与匹配算法, 以解决交替出现纹理丰富和纹理缺失的间断纹理环境中图像特征易丢失、误匹配率较高的问题。首先, 利用ORB算法和半稠密直接法分别对图像提取特征点和特征区域。其次, 使用渐进一致采样法(PROSAC)剔除ORB算法的误匹配特征点, 并计算特征点的正确匹配率。最后, 针对纹理缺失环境中特征点丢失严重的问题, 以特征点的正确匹配率作为判断依据, 对低匹配率图像, 则基于特征区域使用半稠密直接法实现图像的追踪, 同时对追踪结果进行非线性优化, 提高了特征区域追踪的准确性和稳定性。实验结果表明, 该算法适用于间断纹理环境, 在纹理丰富和纹理缺失条件下均可提高图像匹配的准确率。
ORB算法 特征匹配 半稠密直接法 ORB algorithm feature matching semi-dense direct method PROSA PROSAC 
半导体光电
2020, 41(1): 128

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