作者单位
摘要
西安工业大学 陕西省薄膜技术与光学检测重点实验室,西安 710032
介绍了一种用于离子束辅助沉积光学薄膜的新型宽束冷阴极离子源,详细叙述了该源的结构和工作过程。采用五栅网离子能量测试装置研究了离子源的离子能量及能量分布。结果表明,探针接收的离子最低能量随着引出电压和真空度的升高而升高。离子能量分布概率密度函数为单峰函数,其峰值位置随着真空度的降低向低能量方向移动,随着引出电压的升高向高能量方向移动。当引出电压为200~1200V时,离子平均能量为600~1600eV,呈线性规律变化。这种离子源的离子平均初始动能约为430~480eV。了解和掌握离子源的这些特性和参数,可以有效的对镀膜过程的微观环境(离子密度、离子能量等)进行控制,促进薄膜制备工艺更好地进行。
离子能量 能量分布 离子源 离子束辅助沉积(IBAD) 薄膜 ion energy energy distribution ion beam source ion beam assisted deposition thin films 
光电工程
2008, 35(6): 23

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