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电子轰击型（electron bombarded，EB）CMOS传感器工艺缺陷导致图像出现盲元，对图像质量影响较大。提出了一种基于多幅图像交叉计算的盲元检测新算法。对不同平均亮度的无目标图像，通过设置不同阈值，对图像进行二值化处理；再对多幅二值化图像按“亮点”位置进行交叉“相与”计算，生成盲元标记模板图，最后按盲元位置进行分类和取舍，得到最终盲元标记模板。最终盲元标记模板信息，为评价EBCMOS传感器品质和实际后续产品中盲元补偿提供可靠依据。
