作者单位
摘要
1 北京师范大学物理系
2 北京光电技术研究所
已知对称膜堆[A2BA]~m的大体结构和基底反射率,通过反射率圆图技术和简单算术运算,可得到膜堆的确切结构和定值监控的参数.并给出了监控模式的设计步骤和实验结果.
多层膜 反射率圆图 
光学学报
1989, 9(8): 746
作者单位
摘要
1 北京光电技术研究所
2 清华大学应用物理系
引入一种新的薄膜特征矩阵,用以计算多层膜中的电场分布,得到了TE和TM波电场的简单表达式。计算并绘制了薄膜偏振器和感应反射滤光片的内部电场分布曲线。应用新的薄膜特征矩阵,也可以很容易推导出多层膜的表面等离子激光波的色散关系。
多层薄膜 特征矩阵 
光学学报
1987, 7(9): 832

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