中山大学 光电材料与技术国家重点实验室, 广州 510275
研究了测量光场分布的多角度单刀边法和直角双刀边法。分析了两种刀边法测量光斑特性的基本原理。通过数值模拟，对它们在光斑测量过程中的图像还原能力和抗噪声能力进行了理论分析，并对实验中利用直角双刀边法测量得到的结果进行了简要的分析。研究结果表明，多角度单刀边法在测量光斑的实验中，对光斑的还原能力比较有限，而直角双刀边法由于操作简单、还原能力更强，更适合用于光斑的测量。
刀边法 噪声 光斑 knife-edge technique noise spot 强激光与粒子束
2014, 26(1): 011014
电子科技大学信息材料工程学院, 成都 610054
研究用XRF基本参数法计算磁光盘的厚度和组成，铝层厚度用Al Kα线计算，两层氨化硅厚度都采用Si Kα线计算确定，磁光记录层采用Fe Kα，Co Kα和Tb Lα线来确定其厚度及组成。列出了膜厚方程，可由计算机很快解出，其结果与标准符合很好。
磁光盘 基本参数法 膜厚及组成
