市场上陈皮以次充好现象时有发生, 而年份是衡量陈皮品质的重要指标。 研究用高光谱技术结合化学计量学算法, 在380～1 023及874～1 734 nm两波段对不同放置方式的陈皮进行年份鉴别。 为了寻找更合适的波段和模拟实际生产检测中陈皮放置的随机性, 采集了四个年份共180个样本在380～1 023及874～1 734 nm的正、 反面高光谱图像（720幅）。 用主成分分析法（principal component analysis, PCA）对陈皮光谱信息进行定性分析, 发现不同年份陈皮基于正反面光谱有明显的聚类; 而后以回归系数法（regression coefficient, RC）选取陈皮年份相关的特征波段以减少变量; 用偏最小二乘判别分析（partial least squares discriminant analysis, PLS-DA）基于全波段、 特征波段对三种放置方式（正、 反、 正反混合）的样本建立模型, 最后对特征波段建立线性PLS-DA模型和非线性ELM模型并进行比较分析。 研究表明: 在380～1 023 nm的预测效果大多高于874～1 734 nm, 基于非线性ELM的判别结果均高于线性PLS-DA模型, 准确率最高可达到建模集10000%, 预测集9833%, 陈皮正、 反、 正反混合三种放置方式预测准确率多数可高于85%, 故采用高光谱技术可实现对不同放置方式的陈皮年份进行无损鉴别, 为进一步开发便携仪器或在线生产设备提供方法和理论依据。