为了快速感知并分析田间作物生长状况, 采用先进的半导体镀膜工艺的光谱成像传感器, 研究镀膜型光谱成像数据的提取与叶绿素含量分布式检测的方法。 实验采用基于镀膜原理的IMEC 5×5成像单元式多光谱相机, 对47株苗期玉米植株的冠层进行拍摄, 获取673～951 nm范围内的25个波长的光谱图像。 利用SPAD-520叶绿素仪非破坏性地测量叶绿素含量指标, 每株玉米冠层叶片设置2～3个采样点, 每点测量3次取平均, 共计251个样本数据; 同时使用ASD Handheld2型光谱仪采集相应位置区域的反射率曲线, 以对比分析镀膜型光谱成像传感器提取玉米植株冠层叶片反射率曲线的特性。 首先, 在分析镀膜型光谱成像传感器的成像原理的基础上, 通过对原始图像的拆分和重组分别提取成像单元中相同波段的像素灰度值, 并利用相同波段的像素灰度值重构单波段光谱图像, 获取各波段光谱图像。 其次, 利用4灰度级标准板建立图像灰度值和灰度板反射率之间的线性反演公式, 对提取的反射率进行校准。 然后, 为了准确分割出玉米植株冠层, 提出了大津算法(OTSU)和霍夫圆变换组合的玉米植株冠层图像二次分割方法, 分别剔除图像中土壤和培养盆背景的干扰。 最后, 利用马氏距离算法剔除异常样本数据, 利用SPXY (sample set partitioning based on joint X-Y distance)算法划分建模集和验证集, 采用偏最小二乘回归法(PLSR)建立玉米植株叶绿素含量指标诊断模型, 并绘制其分布伪彩色图用于分析叶绿素含量空间分布特征。 研究结果表明, ①对25波段多光谱图像提取和反射率线性校准拟合模型决定系数均达到0.99以上。 分析校准前和校准后与ASD光谱仪测量反射率曲线, 镀膜型成像传感器获取玉米冠层反射光谱总体与ASD采集反射率体现的光谱特征一致, 且校正后数据比校正前与ASD光谱反射率的一致性得到了提升。 ②建立初次OTSU分割算法和基于霍夫圆变换识别的二次分割算法, 可以有效剔除玉米植株光谱图像中的土壤和培养盆背景噪声的干扰。 ③叶绿素含量指标PLSR诊断模型建模集R2c为0.545 1, 验证集R2v为0.472 6。 玉米作物冠层叶绿素分布可视化图可以直观反映叶绿素含量分布与生长动态情况。 通过对镀膜型光谱成像传感器应用方法的研究, 为后续玉米植株叶绿素动态快速检测奠定基础和提供技术支持。

为了快速感知并分析田间作物生长状况, 采用先进的半导体镀膜工艺光谱成像传感器, 研究了玉米植株冠层叶绿素含量分布式检测方法。 试验采用IMEC 5×5成像传感器, 拍摄47株苗期玉米植株冠层, 获取673～951 nm范围内的25个波长的光谱图像。 实验中, 利用SPAD-520叶绿素仪非破坏性地测量叶绿素含量, 每株玉米冠层叶片设置2～3个采样点, 每点测量3次取平均, 共计242个样本数据。 对光谱图像数据, 经4灰度级标准板提取并校准反射率。 为了实现玉米植株与花盆、 土壤背景的有效分离, 在分析不同对象光谱反射率与图像像素特征的基础上, 提出了一种基于谱图特征组合的植株分割方法, 即基于植被指数的图像初步分割与区域标记计算的冠层精细分割的植株提取算法。 首先, 计算各像素点归一化植被指数(NDVI), 并开展基于NDVI的植株冠层分割方法分割结果优于基于最大类间方差法的全局阈值自适应分割算法。 其次, 采用边缘保持中值滤波算法剔除初步分割后图像中存在的噪声点后, 基于区域标记算法进行精细分割, 获得掩膜并最终得到仅保留玉米植株冠层的光谱图像。 分别采用相关分析法(CA)和随机蛙跳(RF)算法选取反射光谱特征波长, 并构建750～951 nm近红外(NIR)和673～750 nm红色(R)选中波长集合, 遍历NIR和R集合组合计算比值植被指数(RVI), 差值植被指数(DVI), 归一化植被指数(NDVI)和SPAD转换指数(TSPAD)。 然后, 再次采用CA和RF算法筛选植被指数, 利用SPXY算法将样本按照7∶3比例划分为建模集和验证集, 并建立了叶绿素含量指标检测CA+RF-PLSR模型。 结果表明, 其建模集R2C为0.573 9, RMSEC为3.84%, 验证集R2V为0.420 2, RMSEC为2.3%。 利用建模结果对多光谱图像进行处理, 绘制玉米叶片SPAD值伪彩色分布图, 实现叶绿素含量分布可视化。 研究表明采用镀膜型光谱成像数据, 分析对象光谱与图像特征, 探讨玉米冠层叶绿素含量分布检测的可行性, 可为直观监测作物生长动态提供支持。