作者单位
摘要
复旦大学先进光子学材料与器件国家重点实验室, 上海 200433
采用基于密度泛函理论的第一性原理研究了赝立方结构的Si3P4、Ge3P4、Sn3P4的电子结构和光学性质。结果表明:三种材料均为间接带隙半导体材料, 与同类的碳化物相比, 具有相对大的静态介电常数。研究结果为这类材料的应用提供了理论依据。
IVA族磷化物 电子结构 光学性质 第一性原理 
激光与光电子学进展
2007, 44(2): 30

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