针对 LED灯具寿命受温度影响的问题，提出了一种较为完善的优化设计方法。通过对影响 LED灯具寿命因素进行分析，指出温度是影响 LED灯具寿命的关键。重点分析引起 MOSFET发热严重的原因，并提出切实可行的优化方案，即对 LED芯片串并联方式进行优化设计，并进行了试验。实验结果表明，通过改变 LED芯片排列方式，可有效地将 MOSFET的温度降低 10 ℃左右，证明了该优化设计的可行性。
LED寿命 可靠性 温度 LED life span reliability temperature MOSFET MOSFET
