针对短波段成像系统中的散射问题，提出了一种基于反射镜表面粗糙度来计算极紫外太阳望远镜工作波段分辨率的方法。首先分析了两镜系统中散射光线的传播，讨论了反射镜表面粗糙度相对波长的比值与像面光强分布的关系。分频段测量了反射镜的表面粗糙度，利用k-相关模型拟合出全频段的一维功率谱密度(PSD)。数值计算结果表明：在1/D到1/λ(λ为入射光波长)的空间频率范围内，主次镜的有效均方根表面粗糙度分别为0.59 nm和0.77 nm。利用Zemax光学设计软件，建立了包含反射镜表面粗糙度测量数据的极紫外(EUV)望远镜非序列模型，该计算模型能够反映出反射镜表面散射对像面分辨率的影响，结果显示，在30.4 nm波段，包含80%的能量半径从3.9 μm增大到4.3 μm，望远镜在工作波段相应的分辨率为0.25″，满足设计要求。

波前功率谱密度的数值计算会由于窗函数的使用引入较大的计算误差.通过对模拟的单一频率波前加窗前后的功率谱密度的理论计算,由傅里叶变换性质推导出了修正因子,并对波前频率与修正因子的关系进行了理论研究.结果表明,在一定的波前频率及误差范围内,对加汉宁窗后1维动率谱密度的计算结果乘上一个常量8/3即可实现简单有效的修正.