温波 1,2,*颜昌翔 1
作者单位
摘要
1 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所空间光学部, 吉林 长春 130033
2 中国科学院研究生院, 北京 100039
光学系统是分光光度计的核心部分,以光谱仪基本原理和光学设计理论为基础,以便携化、低成本、且满足设计要求的光谱范围和分辨率为具体设计目标,对李特洛系统、艾伯特-法斯梯系统、切尔尼-特纳系统、交叉式切尔尼-特纳系统这4种可行的设计方案进行了比较与分析,提出以平面衍射光栅作为色散元件的非对称交叉式Czerny-Turner结构作为该设计的系统结构。用光学软件对该系统进行模拟和优化,设计结果表明: 设计的系统光谱范围为360nm~740nm,光谱分辨率为10nm、F数为5.25、光谱展开为44.1mm、系统体积约80mm×69mm×62mm,满足精度高、体积小及成本低等设计要求。
色度计 分光光度计 交叉式Czerny-Turner结构 平面衍射光栅 硅光电二极管阵列 colorimeter spectrophotometer crossed Czerny-Turner structure plane diffracting grating Si photodiode array 
应用光学
2011, 32(1): 18
作者单位
摘要
中国工程物理研究院,流体物理研究所,四川,绵阳,621900
对飞秒激光辐照下硅光电二极管损伤阈值进行了实验测量,对从ls到60fs不同脉宽激光辐照下硅光电二极管损伤阈值进行了讨论.实验数据表明,在ls到10ns脉宽范围内损伤所需能量密度近似而非严格地与脉宽的平方根成正比.信号分析表明硅光电二极管的损伤主要由热效应造成,而60fs激光辐照下的损伤阈值为0.1J/cm2,明显偏离普通温度分布预言的趋势.
飞秒激光 硅光电二极管 损伤阈值 脉宽效应 Femtosecond laser Si photodiode Damage threshold Duration effect 
强激光与粒子束
2004, 16(6): 685
作者单位
摘要
Chongqing Optoelectronics Research Institute, Chongqing 400060, CHN
Si-photodiode Detector arrays Crosstalk 
半导体光子学与技术
2000, 6(1): 29

关于本站 Cookie 的使用提示

中国光学期刊网使用基于 cookie 的技术来更好地为您提供各项服务,点击此处了解我们的隐私策略。 如您需继续使用本网站,请您授权我们使用本地 cookie 来保存部分信息。
全站搜索
您最值得信赖的光电行业旗舰网络服务平台!