作者单位
摘要
中国原子能科学研究院北京 102413
为了解决硅光电倍增器(Silicon Photomultiplier,SiPM)受环境噪声影响大的问题,设计了一款SiPM耦合塑料闪烁体探测器的信号放大电路。以AD8014放大芯片和CR电路构成负反馈选通放大电路,并且与OPA657跨阻式放大电路进行对比。该款电路以RC滤波输入部分和集成运算放大器构成信号放大电路,具有快上升时间及低输入噪声;以CR高通滤波电路作为比较器信号输入能够有效防止信号反射。实验结果表明:该信号放大电路能够有效滤除环境噪声,并且具备快上升时间。将该电路与塑料闪烁体探测器耦合,在室温下对137Cs源进行暗噪声水平和输出信号一致性测量,其输出脉冲上升时间小于12 ns,暗噪声水平低于30 mV,优于跨阻式放大电路。
SiPM 塑料闪烁体 电路信号仿真 暗噪声与一致性测量 SiPM Plastic scintillator Circuit signal simulation Dark noise and consistency measurements 
核技术
2024, 47(3): 030403
作者单位
摘要
1 长春理工大学电子信息工程学院, 吉林 长春 130022
2 长春理工大学空地激光通信技术国防重点学科实验室, 吉林 长春 130022
通过分析互补性氧化金属半导体(CMOS)相机的信号传递模型, 建立了CMOS相机信号与噪声间的传递函数模型, 推导了相机输出图像信号与图像噪声间的线性关系。搭建了相机性能参数测试系统, 对CMOS相机的转换增益、最大信噪比、时域暗噪声进行了测试, 并将实测值与指标值进行了对比。研究结果表明, 所提测试方法能较精确地测出相机的性能参数, 适用于大部分型号相机光电参数的测试。
探测器 光电器件 转换增益 最大信噪比 暗噪声 
激光与光电子学进展
2018, 55(10): 100401
作者单位
摘要
中国科学院 长春光学精密机械与物理研究所, 吉林 长春 130033
为将环形光谱仪下传的原始数据快速转换为待反演的亮度数据, 建立了紫外环形光谱仪科学数据处理系统。采用文档-视图的数据流架构, 保证数据流之间的无干扰处理; 采用暗像元均值对探测器噪声进行校正; 采用比例法将像元响应换算为标准积分时间和增益条件下的响应值; 采用无须通道光谱响应函数满足高斯函数的光谱积分法将像元响应换算为亮度, 并提供指定区域的相对标准偏差统计作为图像转换正确性的快速判据。实验结果表明: 系统在测试环境中用352 s时间内流畅处理了环形光谱仪在987 s内产生的2.19 GB图像数据, 生成4.96 GB亮度数据, 亮度换算后精度为10-7 lm。系统为卫星运控中心与用户之间提供了快速、准确的数据接口链路, 保证了数据反演的准确性和实效性。
紫外光谱 光谱积分法 暗噪声 环形光谱仪 数据处理 ultraviolet spectrum method of spectrum integral dark noise ultraviolet annular imager data process 
液晶与显示
2017, 32(5): 387
作者单位
摘要
中国电子科技集团公司第四十一研究所,山东 青岛 266555
波长定标的精度是衡量光谱仪的重要 指标之一。鉴于其重要性,研究了线阵电荷耦合器件(Charge-Coupled Device, CCD)紫外光谱仪的波长定 标,并完整地给出了一种波长定标方法(包括噪声扣除、谱 峰定位和波长拟合三部分)。针对暗噪声影响光谱信号的问 题,提出了一种利用非曝光像元扣除暗噪声的方法;针对谱峰漂移 的问题,提出了一种基于权重窄窗差分的谱峰定位方法;针对单一光 源特征谱线数量不足的问题,提出了一种多波段波长拟合方法。实 验结果表明,本文方法的波长定标精度在0.6 nm之内,关键波长点 上的定标精度在0.01 nm之内,具有定标精度高、复杂度低等优 点,因此可用于紫外光谱仪的波长定标。
线阵CCD 紫外光谱仪 暗噪声 谱峰定位 分段拟合 波长定标 linear array CCD UV spectrometer dark-noise spectrum-peak location segment-fitting wavelength calibration 
红外
2017, 38(6): 24
作者单位
摘要
1 中国科学院 长春光学精密机械与物理研究所,吉林 长春130033
2 中国科学院 研究生院,北京100039
研究了一种极紫外波段微通道板(MCP)光子计数探测器,用于探测地球等离子体层中极微弱的304 nm辐射。通过改变电压、温度等参数对比了该微通道板光子计数探测器的暗噪声和分辨率的变化。结果表明:微通道板探测器的暗噪声主要来源于残余气体离子反馈和热噪声,因此要降低探测器暗噪声,应对微通道进行彻底的预处理除气,并尽量避免探测器在高温状态下工作,常温下经过预处理的微通道板光子探测系统的暗计数率仅为034 count/(s·cm2)。系统的分辨率主要受电压和计数率的影响,受温度影响不明显。由于不同的微通道板有不同的耐压范围,过小或过大的电压或计数率都会造成系统分辨率的降低。
光子计数探测器 微通道板 暗噪声 分辨率 photon counting detector Microchannel Plate(MCP) dark noise resolution 
中国光学
2012, 5(3): 302

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