为测量太赫兹时域光谱散射测量系统的静区场强分布, 以确定后续测量目标的尺寸, 将金属球在静区三维方向上移动测量回波, 分别采用不同软件处理实验数据并得到不同类型的数据拟合曲线, 由拟合曲线得到了静区的三维空间范围。通过不同类型的曲线拟合发现, 相对于入射波方向在静区横截面的两维方向上, 电场强度分布近似为高斯分布, 而在入射波方向上的场强分布在某一范围内存在波动现象。还对系统的线性度进行了测量, 结果显示了系统具有良好的线性度。

通过对掺杂有二色性染料扭曲向列液晶器件的结构和光学原理的分析,采用光学测试设备扫描得到不同理论光程差的发射光谱。并运用光谱所对应的透过率及其相应理论光程差的比例关系,使用回归拟合曲线,得到测定有效光程差的方法,其线性相关的程度R2可达到0.995 7。该方法具有快速,简易的特点,对研究掺杂二色性染料扭曲向列液晶光程差的测量有参考作用。

应用图像法对长焦距高分辨率航空相机实时检调焦过程中，由于外界环境因素的影响使得系统产生像移，调焦精度降低。当前对于由相对运动引起的像移和调焦精度两者的之间关系没有通用性的理论和确切的研究。从理论上分析了高分辨率航空图像线性像移和抖动像移的模型，给出了像移模型对评价函数的影响，得到像移与调焦曲线极大值呈负相关的关系。图像的像移量越大，调焦函数曲线的最大值下降越显著。利用二次函数拟合的方法获得离散评价函数点的拟合曲线，曲线最高点即对应调焦的最优对焦位置。搭建了动基座检调焦实验平台，实验结果表明当平台引起的图像像移量由1 pixel 增加至5 pixel 时，评价函数曲线的最大值由95.95%下降到87.64%。应用拟合曲线的方法得到的最佳对焦位置在系统半焦深范围之内，满足高分辨率航空相机调焦精度的要求，同时证明了像移理论分析的正确性。

为了得到准确的光谱测量结果, 对AvaSpec-2048微型光纤光谱仪进行了标定实验设计。根据标定实验结果, 采用两种不同的数学算法, 使用MATLAB软件, 得到了标定方程和拟合曲线。为了验证标定结果的准确性, 设计了验证实验, 通过对比验证实验结果得到最佳标定方程。