1 南开大学物理学院,天津,300071
2 华南理工大学高分子光电材料与器件研究所,广州,510640
3 GangUNIAX Corporation/DuPont Displays Santa Barbara, California,93117
测量了由修正的Gilch方法制作的MEH-PPV薄膜的反射光谱,对于玻璃基底对反射谱的影响做了修正.利用了修正后的反射谱进行了kk变换,获得了薄膜的折射率n.再用计算所得的数据反算出薄膜的反射率与测量的反射谱是一致的,获得的折射率随波长的变化与测量的吸收谱是相对应的,对所得结果进行了误差分析.
折射率 反射谱 kk变换 Refraction index Reflection spectrum The KK relation MEH-PPV MEH-PPV
