随着光通信设备在不同地区、不同环境下的广泛部署, 工程中出现了多起由于机房环境不合格导致的光模块硫化腐蚀失效事件, 客户对光模块在含硫环境下工作寿命预估的需求越来越强烈。文章提出了一种应用加速硫化腐蚀对光模块内部易腐蚀组件(电阻和磁珠)建立寿命预估模型的方法, 该方法以威布尔分布作为基准失效函数, 以相同环境应力或不同环境应力作为协变量, 利用电阻和磁珠加速硫化腐蚀试验的失效率数据进行模型参数估计, 对寿命预估模型进行了研究。研究结果表明, 该加速试验结果与工程失效数据吻合, 该寿命预估模型能够满足工程中光模块寿命的预估需求。

大多数现有的寿命预测模型在处理光电产品实验数据时存在耗时长、精度低等问题。为了短时间内准确地预测光电产品的寿命,利用两参数威布尔函数拟合多组应力下的亮度衰减数据获得加速寿命,通过拟合优度检验参数确定Power函数来外推常规寿命,从而构建了一种新型的光电产品寿命预测模型:加速寿命外推模型(ALEM)。将该模型应用于真空荧光显示屏(VFD)寿命的快速预测,开展了4组恒定应力加速退化实验,实现了模型精度的评价。结果表明,设计的VFD加速退化实验方案正确可行,采集的实验数据客观地反映了VFD亮度衰减特性;ALEM准确地描述了加速应力下亮度的变化轨迹,很好地揭示了应力随寿命变化的规律,无需开展常规寿命实验便可精确地外推出产品的寿命,为现代光电产品的寿命评估开辟了一种新的方法和途径。