郭振锋 1,2刘波 1,2,3张昊 1,2刘海锋 1,2,3[ ... ]陆泽辉 1,2
作者单位
摘要
1 南开大学 电子信息与光学工程学院, 天津 300350
2 南开大学 现代光学研究所, 天津 300350
3 南方海洋科学与工程广东省实验室(珠海), 广东 珠海 519000
为提高多口径发射的自由空间光通信系统性能, 以“海洋高速通信网络关键技术研究与验证”项目为背景, 提出了平均误码率(BER)的解析表达式。通信系统采用典型的强度调制直接探测(IMDD), 工作在由指数威布尔(EW)分布模型描述的湍流环境中。分析了系统在不同信道参数下的孔径平均效应, 以及不同发射口径数和通信速率对平均BER的影响。仿真结果表明: 低通信速率下多口径发射系统具有良好的湍流抑制能力, 高通信速率下不同发射口径的到达时间差会增加通信系统的误码概率。
自由空间光通信 大气湍流 多口径发射 指数威布尔分布模型 free space optical communication, turbulent atmosp 
光通信技术
2022, 46(4): 11
作者单位
摘要
1 昆明物理研究所,云南昆明 650223
2 国营第二九八厂,云南昆明 650114
对有机电致发光二极管( Organic Light-Emitting Diode,OLED)微型显示器件进行 90℃、80℃、 70℃的高温贮存试验,获得产品的失效数据。基于威布尔分布模型,采用最小二乘法进行参数估计,对失效数据分析,获得 OLED微型显示器件失效分布函数。应用经典可靠性理论,计算产品在 90℃、 80℃、70℃的特征寿命、可靠寿命及平均故障间隔时间(Mean Time Between Failure,MTBF)。采用 Arrhenius模型,依据 90℃、80℃、70℃的贮存特征寿命,获得常温下产品的贮存特征寿命。分析结果表明,该方法合理、简便、有效,数据结果可以进一步应用到推导产品常温贮存寿命。
威布尔分布模型 失效分布函数 可靠性 特征寿命 可靠寿命 Arrhenius模型 Weibull distribution model, failure distribution f MTBF 
红外技术
2020, 42(11): 1077
作者单位
摘要
烽火通信科技股份有限公司, 武汉 430074
随着光通信设备在不同地区、不同环境下的广泛部署, 工程中出现了多起由于机房环境不合格导致的光模块硫化腐蚀失效事件, 客户对光模块在含硫环境下工作寿命预估的需求越来越强烈。文章提出了一种应用加速硫化腐蚀对光模块内部易腐蚀组件(电阻和磁珠)建立寿命预估模型的方法, 该方法以威布尔分布作为基准失效函数, 以相同环境应力或不同环境应力作为协变量, 利用电阻和磁珠加速硫化腐蚀试验的失效率数据进行模型参数估计, 对寿命预估模型进行了研究。研究结果表明, 该加速试验结果与工程失效数据吻合, 该寿命预估模型能够满足工程中光模块寿命的预估需求。
硫化腐蚀 威布尔分布 环境应力 可靠性 寿命预估模型 sulfide corrosion Weibull distribution environmental stress reliability life prediction model 
光通信研究
2020, 46(4): 48
作者单位
摘要
海军航空大学, 山东 烟台 264001
针对现有方法常忽略性能退化数据和失效阈值存在的随机不确定性,将盲数和GM(1,1)模型等灰色系统理论方法运用到性能退化产品可靠性分析中。首先定义退化数据和失效阈值的盲数,采用灰数排序方法优化可信度,由盲数运算求得测量时刻点的可靠度。然后采用GM(1,1)建模方法进行三参数威布尔分布参数估计,获取可靠度函数。最后,将所提方法应用于GaAs激光器退化数据。结果表明本文方法合理有效,拟合精度高,具有工程应用价值。
盲数 三参数威布尔分布 blind number GM(1,1) GM(1,1) three-parameter Weibull distribution 
电光与控制
2018, 25(12): 102
作者单位
摘要
军械工程学院 电子与光学工程系, 石家庄 050003
为实现混响室中威布尔分布杂波的有效模拟,营造逼真的雷达电磁环境,基于广义平稳非相关散射电磁环境下混响室信道衰落特性,通过控制幅度调制信号对衰落系数进行补偿,提出一种基于时域波形设计的混响室地杂波模拟方法.通过调节输入信号序列中大、小幅度脉冲比例,改变混响室传统输入信号的零均值幅度特性,以实测地杂波统计特性为参考,最终得到与实测数据统计特性参数一致的混响室杂波电磁环境.用最大似然估计和KS检验法对实验数据作参数估计和假设检验,实测地杂波数据拟合于标准威布尔模型,混响室实验数据拟合于实测地杂波幅度统计模型,从而实现了实测地杂波起伏特性的混响室有效模拟.
混响室 威布尔分布 地杂波 拖尾比 统计特性 reverberation chamber Weibull distribution ground clutter trailing ratio statistical distribution 
强激光与粒子束
2015, 27(8): 083202
作者单位
摘要
北京工业大学 光电子技术省部共建教育部重点实验室, 北京 100124
提出一种快速评价LED可靠性的有效方法。通过测试LED样品的伪失效寿命, 结合Minitab软件进行数据分析, 确定全部样品的伪失效寿命服从二参数的威布尔分布。通过计算威布尔分布尺度参数, 比较不同样品的尺度参数来评价产品的可靠性。该方法对LED的可靠性评价和寿命预测有一定的参考价值。
发光二极管 定时截尾试验 伪失效寿命 威布尔分布 LED fixed time test pseud-failure lifetime Weibull distribution 
发光学报
2013, 34(2): 213
作者单位
摘要
海军航空工程学院,山东 烟台264001
利用外场故障数据,对威布尔竞争性故障装备进行了可靠性分析。首先对外场故障数据进行处理和失效模式分析,分别为各部件建立威布尔分布模型,得到其形状参数和尺度参数。进而在竞争性故障下,得到装备的可靠度函数和失效率函数。最后给出了一个陀螺仪算例来说明该分析方法的有效性。研究表明,该分析方法更符合装备的故障规律。
竞争性故障 失效机理 陀螺仪 威布尔分布 competing failure failure mechanism gyroscope Weibull distribution 
电光与控制
2012, 19(8): 90
作者单位
摘要
1 中国工程物理研究院 激光聚变研究中心, 四川 绵阳 621900
2 西安交通大学 电力设备电气绝缘国家重点实验室, 西安 710049
针对强激光能源系统对Marx触发器的输出性能和可靠性要求,介绍了一种六级的Marx触发器。通过采用多级低电感脉冲形成电路获得了高幅值、陡前沿的输出脉冲,运用实验与概率分析相结合的方法,确定了它的工作参数。实验研究结果表明:这种Marx触发器的误触发率和触发气体开关成功率均符合两参数的威布尔概率分布;当欠压比为65%、工作电压为13.5 kV、工作气压(绝压)为0.35 MPa时,能输出幅值120 kV、前沿20 ns的电压脉冲;该触发器能同时满足误触发率低于0.000 1%,正常触发成功率高于99.999 9%的技术要求。经过长时间现场运行测试,Marx触发器工作良好,无异常现象。
Marx触发器 气体火花开关 威布尔分布 静态击穿电压 强激光能源系统 Marx trigger gas spark switch Weibull distribution static breakdown voltage high power laser system 
强激光与粒子束
2012, 24(5): 1251
作者单位
摘要
南京理工大学电子工程与光电技术学院, 江苏 南京 210094
CFAR(Constant False Alarm Rate,恒虚警)是红外弱小目标检测系统中的一项核心技术,为了克服传统单帧探测方法在复杂背景下的不足,本文提出了一种基于威布尔分布的阈值更新 OSTWO CFAR检测方法。对红外图像进行 Laplace滤波和杂波拟合后,设计 CFAR检测器,图像中的每个检测单元,根据周围单元来确定其阈值,再判定其为目标还是背景杂波。试验表明,提出的算法能够控制虚警率和提高探测率,并且很好的解决了复杂背景下目标遮挡和背景变化的问题。
红外弱小目标检测 Laplace滤波 威布尔分布 阈值更新 CFAR CFAR infrared small target detection Laplace filter Weibull distribution threshold updata 
红外技术
2011, 33(10): 559
作者单位
摘要
上海电力学院 能源与环境工程学院,上海 200090
为了精确地估计真空荧光显示器(VFD)的可靠性寿命,节省试验测试时间,通过建立加速寿命试验模型开展了4组恒定应力加速寿命试验,采用威布尔函数描述VFD寿命分布,利用最小二乘法(LSM)估计威布尔参数,完成了试验数据的统计分析,并自行开发了寿命预测软件,确定了加速寿命方程,实现了VFD的寿命估计。数值结果表明,试验设计方案是正确可行的,VFD的寿命服从威布尔分布,其加速模型符合线性阿伦尼斯方程,每个加速应力水平下VFD的失效机理不变,精确计算出的VFD寿命对其生产厂商和技术人员具有重要的指导意义。
真空荧光显示器 可靠性寿命 加速寿命试验 恒定应力 威布尔分布 vacuum fluorescent display reliable lifetime accelerated life test constant stress Weibull distribution 
液晶与显示
2010, 25(2): 205

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