李勇 1,2李建郎 1李展 2刘德安 2[ ... ]张军勇 2,*
作者单位
摘要
1 上海理工大学 光电信息与计算机工程学院,上海 200093
2 中国科学院上海光学精密机械研究所 高功率激光物理联合实验室,上海 201800
光学元件的损伤在高功率激光系统的终端光学组件中较为普遍且对激光系统的正常运行有重大影响。为提高元件的使用寿命和保证激光光路正常运行,首先要做的是检测和判断出损伤出现的位置、大小、类型。在线检测中终端光学损伤检测装置是一种重要的方法,它能够直接、实时地对元件的损伤情况进行成像并分析,另外还有一种间接获取损伤图像的方式,即用衍射环检测损伤,通过相关公式求出损伤点的大小和位置。针对更小的损伤的检测,深度学习这一工具能够处理大量数据,是目前研究该问题不可或缺的一类方法,它能够减少人工,并提高效率和准确率。修复损伤的主要方式是快速熔融缓解,即二氧化碳激光熔融损伤区,该方法是目前最常见、最有效的修复方式。对损伤问题处理的前提和关键在于精确定位更小的损伤点并分类不同类型的损伤,以便确定后续修复步骤。损伤的检测和修复是光学循环回路策略的重要部分,传统方法有一定的局限性。近些年,受到深度学习在图像处理和目标识别领域的优势的影响,未来会有越来越多深度学习的方法能够被用在与损伤检测相关的研究上。这对高功率激光系统长期稳定运行和正常发展有重要意义和作用。
元件损伤 在线检测 高功率激光系统 损伤修复 深度学习 Element damage On-line inspection High power laser system Damage repair Deep learning 
光子学报
2022, 51(10): 1012002
吕奇霖 1,2马再如 1,*王方 2,3胡东霞 2[ ... ]艾亦章 1
作者单位
摘要
1 西华大学 理学院, 成都 610039
2 中国工程物理研究院 激光聚变研究中心, 四川 绵阳 621900
3 四川大学 电子信息学院, 成都 610005
高功率激光系统中的热像效应可能导致光束的峰值功率剧烈增加,增益非线性介质会使这种光强增幅更为强烈。基于菲涅尔-基尔霍夫衍射理论和非线性近轴波动方程,对强激光在增益克尔介质工作在饱和区时的热像产生过程进行理论分析,将光束传输方程中增益饱和部分进行麦克劳林展开,取其近似,经过推导得出了介质薄近似时热像强度解析式和热像位置。通过数值模拟对解析结论预测的热像强度和位置进行验证。仿真结果表明,热像的位置在衍射物相对于介质对称处,热像强度解析结果与模拟结果相符,在薄介质时,解析解与模拟结果拟合较好。热像强度随非线性介质内非线性效应增强而停止增加,此外,讨论了热像强度随调制类型的变化。
高功率激光系统 热像 增益饱和 非线性薛定谔方程 解析解 high power laser system hot image gain saturation nonlinear Schrödinger equation analytical solution 
强激光与粒子束
2021, 33(11): 111015
杨航 1,*宋书飘 1张帅 1甘欢 1[ ... ]何建国 2
作者单位
摘要
1 遵义师范学院工学院, 贵州 遵义 563006
2 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所, 四川 绵阳 621900
3 中国工程物理研究院超精密加工技术重点实验室, 四川 成都 610200
提出一种磁流变抛光瞬变过程多相颗粒流模型,获得了瞬变过程在宏观、介观、微观三个层次的力学关联,从而建立了基于三向在位力学信号的瞬变过程表征方法,在位、同步、动态地测定了磁流变抛光的三向力学信号,解决了毫米尺度空间下磁流变抛光液-固界面的在位测量问题。采用屈服强度为220 kPa、宾汉黏度为0.07 Pa·s的高去除率抛光液对?50 mm的BK7超精密平面元件进行磁流变抛光实验,测量得到磁流变抛光流场瞬变响应时间为700 ms。
光学设计 强激光系统 超精密光学加工 磁流变抛光(MRF) 瞬变过程 在位测量 响应时间 
激光与光电子学进展
2020, 57(3): 032201
作者单位
摘要
1 苏州大学 物理与光电·能源学部 苏州纳米科技协同创新中心, 江苏 苏州 215006
2 苏州大学 江苏省先进光学制造技术重点实验室 教育部现代光学技术重点实验室, 江苏 苏州 215006
针对强激光系统中常用的1 053 nm激光器进行了偏振光栅结构的优化设计。利用严格耦合波理论分析了光栅偏振器的衍射特性及消光比, 分析显示偏振光栅周期为600 nm, 占宽比为0.535~0.55, 槽形深度为1 395 nm~1 420 nm时, 可保证其在1 053 nm波长下, 透射率高于95%, 消光比大于1 500。基于分析结果, 利用全息光刻技术制作了高质量光刻胶光栅掩模, 并采用倾斜转动的离子束刻蚀结合反应离子束刻蚀的方法对该光刻胶光栅掩模进行图形转移, 制作了底部占宽比为0.54, 槽形深度为1 400 nm的光栅偏振器。实验测量显示其透射率为92.9%, 消光比达到160。与其他制作光栅偏振器方法相比, 采用单光刻胶光栅掩模结合倾斜转动的离子束刻蚀工艺, 不但简化了制作工艺, 而且具有激光损伤阈值高、成本低的优点。由于该技术可制作大面积光栅, 特别利于在强激光系统中应用。
高功率激光系统 光栅偏振器 严格耦合波理论 全息光刻 离子束刻蚀 high power laser system grating polarizer rigorous coupled-wave theory holographic lithography ion beam etching 
光学 精密工程
2016, 24(12): 2962
作者单位
摘要
中国科学院 上海光学精密机械研究所 强激光材料重点实验室, 上海 210800
回顾了国内在激光预处理技术研究方面取得的进展。综述了基于激光预处理技术提升基频介质膜、磷酸二氢钾/高掺氘磷酸二氢钾(KDP/DKDP)晶体等光学元件抗激光损伤性能的机理、效果和关键技术。针对高功率激光驱动器中关键光学元件激光负载能力的提高, 建立了大口径光学元件激光预处理平台, 实现了基频介质膜元件的激光预处理工程化作业。比较了纳秒和亚纳秒脉冲宽度激光对DKDP晶体损伤性能的影响。基于亚纳秒激光预处理后, 纳秒激光辐照至14.4 J/cm2(5 ns)尚未出现"本征"损伤的实验结果, 提出了用于DKDP晶体的亚纳秒激光预处理方案, 并指出亚纳秒激光预处理技术将成为高功率激光三倍频晶体抗激光损伤性能达标的关键技术。
激光预处理 激光与物质相互作用 高功率激光 激光损伤阈值 介质膜 磷酸二氢钾(KDP)晶体 高掺氘磷酸二氢钾(DKDP)晶体 laser conditioning high power laser system laser induced damage threshold dielectric coating potassium dihydrogen phosphate(KDP) crystal doped deuterium KDP(DKDP) crystal 
光学 精密工程
2016, 24(12): 2938
Author Affiliations
Abstract
Institute of Systems Engineering, CAEP, Mianyang 621900, China
Heat handling has been a significant problem of the high power fiber laser systems as the output power increases rapidly. Cladding power stripper (CPS) which is used to deal with the unwanted optical power and light is required for higher cooling ability. So the methods of stripping the unwanted light attracted much attention recently, and the thermal effect is given. However, few investigations focus on the dissipation of the heat converted from the unwanted light. In this paper,an approach of active cooling for CPS is demonstrated. This is achieved by using microchannel cooling technology in heat sinking in CPS to improve the efficiency of heat exchange. In order to explain the mechanism of CPS the function of it and consistence of categories of the unwanted light are detailed firstly. Then microchannel heat sinking is proposed and verified by the heat exchange theory. At last, the design of the CPS with microchannel heat sinking is shown and following experiment is conducted. The final temperature of the device with 1000 W cladding power was demonstrated at last to verify the ability of heat distribution of the CPS component. This suggests that these CPSs can be used to stripe a thousand of watts of light in high power double cladding fiber lasers.
cladding power stripper cladding power stripper double cladding fiber double cladding fiber high power laser system high power laser system microchannel microchannel 
High Power Laser Science and Engineering
2016, 4(3): 03000e28
作者单位
摘要
中国工程物理研究院 激光聚变研究中心, 四川 绵阳 621900
以目前激光惯性约束聚变中应用最广泛的高折射率材料二氧化铪(HfO2)为研究对象, 在熔石英基底上分别采用TEMAH和HfCl4前驱体制备了HfO2薄膜, 沉积温度分别为100, 200和300 ℃。采用椭偏仪和激光量热计对薄膜的光学性能进行了测量分析, 采用X射线衍射仪(XRD)对薄膜的微结构进行了测量。最后在小口径激光阈值测量平台上按照1-on-1测量模式对薄膜的损伤阈值进行了测试, 并采用扫描电子显微镜(SEM)对损伤形貌进行了分析。研究表明, 用同一种前驱体源时, 随着沉积温度升高, 薄膜折射率增加, 吸收增多, 损伤阈值降低。在相同温度下, 采用有机源制备的薄膜更容易在薄膜内部形成有机残留, 导致薄膜吸收增加, 损伤阈值降低。采用HfCl4作为前驱体源在100℃制备氧化铪薄膜时, 损伤阈值能够达到31.8 J/cm2 (1064 nm, 3 ns)。
惯性约束聚变 强激光系统 原子层沉积 激光损伤阈值 HfO2薄膜 inertial confinement fusion high power laser system atomic layer deposition laser induced damage threshold HfO2 thin film 
强激光与粒子束
2015, 27(5): 052004
任寰 1,2,*姜宏振 2刘旭 2刘勇 2[ ... ]朱日宏 1
作者单位
摘要
1 南京理工大学 电子工程与光电技术学院, 南京 210094
2 中国工程物理研究院 激光聚变研究中心, 四川 绵阳 621900
为了研究高功率激光系统中划痕型缺陷对光场质量的影响,采用分步傅里叶算法对非线性近轴波动方程进行求解,模拟分析了不同划痕参数(长度、宽度、深度)下,元件内部、光束近场、元件后传输光场以及光束远场的光强分布情况。数值模拟结果表明: 随着划痕长度、宽度或深度的增加,元件内部以及元件后传输光场的峰值强度和对比度均会相应增强;光束近场的光强对比度也会略微增大;对于光束远场的强度分布,与划痕宽度方向所对应的频谱能量会不断增强。该项研究工作可以为划痕检验标准的制定提供一定的定量分析依据。
光学元件 划痕型缺陷 高功率激光系统 分步傅里叶算法 光束近场 光束远场 optics elements scratch defect high power laser system split-step-Fourier-transform near field far field 
强激光与粒子束
2014, 26(9): 092011
作者单位
摘要
浙江大学现代光学仪器国家重点实验室, 浙江 杭州 310027
为了在强激光非线性传输仿真中综合考虑系统像差等因素,提出了一种基于光线追迹的非线性介质光追方法,并编程实现了线性介质与非线性介质的混合建模。以三片式聚焦系统为例,在系统中加入KDP晶体作为非线性介质,仿真分析了不同激光功率密度下KDP晶体的非线性效应对光束质量的影响。仿真结果表明,当激光功率密度达到1.62×1010 W/cm2时,非线性效应会导致光束质量明显下降。在该仿真结果的基础上提出了在不改变焦面位置的情况下,将元件间隔作为补偿器进行系统优化的方法。优化结果表明,焦斑尺寸较优化前减小2.8 μm,规范尺寸下的环围能量提高了16.2%,焦面处的光束质量得到显著改善。
非线性光学 光传输仿真 光线追迹 强激光系统 光束质量 混合建模 
光学学报
2014, 34(2): 0214005
刘旭 1,*任寰 1柴立群 1陈波 1[ ... ]高鑫 2
作者单位
摘要
1 中国工程物理研究院激光聚变研究中心, 四川 绵阳 621900
2 浙江大学现代光学仪器国家重点实验室, 浙江 杭州 310027
为解决大口径光学元件表面疵病检测设备的精确测量、校准和溯源问题。设计了用于标定表面疵病检测系统的标准板,通过电子束曝光将定标图案转移至掩模板,再采用反应离子束刻蚀的方法制作标准板。通过扫描电镜测量标准板上各标准线的真实线宽尺寸,并以扫描电镜测量结果为参考值标定大口径表面疵病检测系统。利用所设计的标准板标定基于散射成像法的大口径表面疵病检测系统。结果表明,当疵病线宽尺寸大于45 μm时,疵病的散射像满足几何成像原理,当疵病宽度尺寸小于45 μm时,需按标定结果进行计算。
光学设计 表面疵病 标准板 反应离子束 大口径光学元件 高功率激光驱动器 
中国激光
2012, 39(s1): s116005

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