作者单位
摘要
北京信息科技大学 光电信息与通信工程学院, 北京 100192
根据多频外差原理推导了三频光栅条纹解包裹的过程, 获取了光栅条纹的绝对相位值。同时, 为了减小误差, 提高测量精度, 提出了一种相位修正的方法, 比较了相位修正前后的相位图, 表明该方法能够非常有效地去除相位误差。通过将修正后的绝对相位值作为匹配的一个特征量, 利用机器视觉中双目立体视觉的方法求取物体的三维特征。实验证实了该方法的可行性, 并得到良好的测量结果。
相位测量 多频外差 相位解包裹 光学测量 phase-shifting multi-frequency interferometry phase unwrapping optical measurement 
光学技术
2012, 38(1): 73

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