南京邮电大学 光电工程学院 微流控光学技术研究中心，南京 210003
采用特定的“导电硅橡胶基片/绝缘膜层”微透镜阵列内芯材料，研究其表面的介质上电润湿(EWOD)特性。实验获得了不同绝缘层厚度和相对介电常数下导电液滴接触角随电压变化的图形，得到了不同材料组合的EWOD特性。实验结果表明，导电液滴接触角的余弦值随电压的增大而增大；在硅橡胶绝缘层厚度不同的情况下，绝缘层厚度与接触角余弦值变化率成反比；在绝缘层相同厚度情况下，硅橡胶绝缘层性能要优于派瑞林绝缘层。相关结论为新型微流控光学变焦透镜阵列器件的设计和研制提供了重要依据。
导电硅橡胶 介质上电润湿 绝缘层参数 conductive silicone rubber electrowetting-on-dielectric parameters of insulating layer
