南京邮电大学微流控光学技术研究中心, 江苏 南京 210003
采用特定的“导电基片/绝缘膜层”微透镜阵列内芯材料，研究其表面的介质上电润湿(EWOD)特性。利用图像采集与数据处理方法测量了0~60 V电压范围内硫酸钠水溶液液滴在“不锈钢基片/Parylene绝缘层”芯片表面的接触角变化数据，通过EWOD理论模型计算得到硫酸钠溶液的表面张力值，此值与理论值相吻合。进而计算了内芯与液滴的界面张力，这种方法可用于一般固液界面张力的测量。
微透镜阵列 电润湿效应 图像处理 界面张力 microlens array electrowetting on dielectric image processing interfacial tension
南京邮电大学 光电工程学院 微流控光学技术研究中心，南京 210003
采用特定的“导电硅橡胶基片/绝缘膜层”微透镜阵列内芯材料，研究其表面的介质上电润湿(EWOD)特性。实验获得了不同绝缘层厚度和相对介电常数下导电液滴接触角随电压变化的图形，得到了不同材料组合的EWOD特性。实验结果表明，导电液滴接触角的余弦值随电压的增大而增大；在硅橡胶绝缘层厚度不同的情况下，绝缘层厚度与接触角余弦值变化率成反比；在绝缘层相同厚度情况下，硅橡胶绝缘层性能要优于派瑞林绝缘层。相关结论为新型微流控光学变焦透镜阵列器件的设计和研制提供了重要依据。
导电硅橡胶 介质上电润湿 绝缘层参数 conductive silicone rubber electrowetting-on-dielectric parameters of insulating layer
