低频电噪声是表征电子器件质量和可靠性的敏感参数, 通过测试低频噪声, 可以快速、无损地实现光耦器件的可靠性评估。通过开展可靠性老化对光电耦合器低频噪声特性影响的试验研究, 提出基于低频段宽频带噪声参数的光电耦合器可靠性筛选方法, 并将可靠性筛选结果与点频噪声筛选方法结果进行对比分析。结果表明, 与点频噪声参数等现有方法相比, 宽频带噪声参数可以更灵敏和准确地表征器件可靠性, 同时计算简便, 基于宽频带噪声参数的光电耦合器可靠性筛选方法可以实现更为准确合理的可靠性分类筛选。

提出了一种空间应用 CCD视频处理器评估测试系统，并应用于工业级视频处理器的航天可靠性筛选中。以现场可编程门阵列 FPGA为控制处理核心，设计并实现了多路模拟 CCD信号发生、视频处理器工作模式控制、通讯及数据采集等功能，详细介绍了系统的功能组成和工作原理。实际完成了集成 40片 CCD视频处理器的单板评估测试系统，该系统已成功应用在工业级视频处理器 XRD98L63的动态筛选试验中，系统工作稳定可靠。在试验条件为 85℃及 192 h加电工作下，对所用同一批次的视频处理器的功能和性能进行了有效测试。试验结果不合格品率为 0，满足单批次筛选不合格品率小于 5%的要求，实现了空间载荷应用中工业级元器件的可靠性筛选。