本文简述LED显示屏生产制造过程中精益生产之单元化生产的实际应用，通过对LED显示屏从元器件焊接到成品组装制程中的后焊工艺、前装配工艺、后装配工艺、箱体装配工艺等手工作业进行单元化生产改善，培养公司员工从被动改善到主动改善的思想转变，从而达到提高生产效率，降低生产成本的目的，逐步实现企业精益生产战略。

通过分析可见光面阵CCD的响应非均匀性, 提出了一种适用于所有面阵CCD的响应非均匀性检测系统。利用该检测系统对全帧型面阵CCD485进行了辐射定标, 建立了面阵CCD485数字图像的灰度值和积分球出口处辐照度之间的响应关系, 并描绘了响应度曲线。从定标采集得到的数字图像可以看出灰度值有明显的跳跃, 响应非均匀性已经超过了5％, 在微光拍照时将严重影响成像的质量, 所以必须进行校正。根据面阵CCD响应度曲线来选择非均匀性校正算法, 考虑到面阵CCD485的响应度为线性, 这里采用了两点校正算法, 求出面阵CCD各个像元的校正因子(增益和偏置), 并存储到校正矩阵中, 通过乘积加法运算把各个像元的信号校正成面阵CCD的平均信号值。实验结果表明, 两点校正算法使面阵CCD485的响应非均匀性降低到原来的1/10左右, 是一种实用有效的校正方法。

介绍了GaN基512×1元紫外长线列焦平面探测器组件的研制过程,并给出了器件的性能。利用金属有机化学气相沉积(MOCVD)方法生长的多层AlGaN外延材料,通过刻蚀、钝化、欧姆接触电极制备等工艺,制作了256×1的背照射AlGaN紫外探测芯片。并对该芯片进行了I-V特性、响应光谱等测试,得到芯片的暗电流Id为4.22×10^-12A、零压电阻R0为1.01×10¹⁰Ω,响应波段为305-365 nm,响应率约为0.12 A/W。该AlGaN探测芯片与电容反馈互阻抗放大器(CTIA)结构的读出电路互连成为一个256模块,两个256模块经过拼接、封装后制备出512×1元紫外长线列焦平面探测器组件。测量室温(300 K)时焦平面组件(实际524元)的响应,平均电压响应率为1.8×10⁸V/W,其盲元率为9.0%,响应不均匀性为17.8%,359 nm处的平均波段探测率为7×10¹⁰cm Hz^1/2W^-1。并对器件性能进行了分析。

为了解决紫外光探测器的光谱响应难以准确测量的问题，采用光声光谱的方法，以自制的高灵敏度光声探测器为标准探测器，建立了一套紫外光探测器的光谱响应测量系统，分别进行了理论分析和实验论证，取得了两种紫外光探测器的光谱响应的数据。实验结果表明，该测量系统结构简单、工作可靠、重复性好，在250nm～450nm范围内，能较准确地测量紫外光探测器的光谱响应曲线。这一结果对解决紫外光探测器的光谱响应难以准确测量的问题是有帮助的；该系统也适用于可见光探测器的光谱响应的测量和固体样品的光声光谱分析。

文章以Matlab为编程、分析工具，运用上、下行链路分离正序法对60 GHz射频光纤(RoF)系统进行功率设计、计算及分配，其中包括对RoF系统中光器件光功率的设计、无线传输部分电功率的估计以及对上行链路重要接收点的信噪比分析。通过系统的功率分配设计，对RoF系统的可实现性、合理性和稳定性做出必要的分析。最后，依据设计方案和功率计算结果，建立实际、可行的60 GHz RoF系统。