作者单位
摘要
1 长春理工大学电子信息工程学院, 吉林 长春 130022
2 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所, 吉林 长春 130033
通过分析可见光面阵CCD的响应非均匀性, 提出了一种适用于所有面阵CCD的响应非均匀性检测系统。利用该检测系统对全帧型面阵CCD485进行了辐射定标, 建立了面阵CCD485数字图像的灰度值和积分球出口处辐照度之间的响应关系, 并描绘了响应度曲线。从定标采集得到的数字图像可以看出灰度值有明显的跳跃, 响应非均匀性已经超过了5%, 在微光拍照时将严重影响成像的质量, 所以必须进行校正。根据面阵CCD响应度曲线来选择非均匀性校正算法, 考虑到面阵CCD485的响应度为线性, 这里采用了两点校正算法, 求出面阵CCD各个像元的校正因子(增益和偏置), 并存储到校正矩阵中, 通过乘积加法运算把各个像元的信号校正成面阵CCD的平均信号值。实验结果表明, 两点校正算法使面阵CCD485的响应非均匀性降低到原来的1/10左右, 是一种实用有效的校正方法。
面阵CCD 响应度 非均匀性校正 两点校正算法 area CCD responsibility non-uniformity correction two-point correction algorithm 
液晶与显示
2010, 25(5): 759

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