作者单位
摘要
中国科学院上海光学精密机械研究所
光热位移偏转技术结合横向光热偏转技术可用于研究薄膜样品的热膨胀系数.本文以SiO2、TiO2、ZrO2、MgF2、ThF4等单层光学薄膜为例.报道相关的实验方法及实验结果.
光热偏转技术 光学薄膜的热膨胀系数 
光学学报
1990, 10(4): 369

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