作者单位
摘要
西安应用光学研究所, 长安 710100
本文针对列阵元件的特点,提出了对其光谱响应进行整体测试的方法。实测结果与误差分析计算表明,整体测试法是一种准确稳定和易行的方法。
光谱响应测试 光电列阵元件 
光学学报
1991, 11(12): 1115

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