1 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 应用光学国家重点实验室, 吉林 长春 130033
2 中国科学院大学, 北京 100049
为评估日盲紫外(SBUV)像增强型CCD(ICCD)响应度随工作时间的变化规律，针对器件的两种典型工作模式设计了SBUV-ICCD疲劳特性测试方案，并构建装置对其进行了实验测量。首先结合SBUV-ICCD的基本结构和工作原理介绍了器件的两种工作模式；其次，定义了器件疲劳特性，提出了SBUV-ICCD疲劳性测试方案；最后，对两只SBUV-ICCD进行了疲劳特性测试，并分析了该测试方案的不确定度。实验结果表明：在光电模拟模式和光子计数模式下国内某型号SBUV-ICCD的疲劳特性分别为13%和3%，国外某型号SBUV-ICCD疲劳特性优于1%，本测试方案的不确定度为1%。
探测器 疲劳特性 日盲紫外像增强型CCD 光电模拟模式 光子计数模式 激光与光电子学进展
2013, 50(11): 110401
