1 中国科学院上海技术物理研究所， 上海 200083
2 中国科学院大学， 北京 100049
3 国家卫星气象中心， 北京 100081
针对某同轴两反光学系统的空间布局特点设计了内遮光罩，并对内遮光罩不同的高度和直径参数进行了系统的杂散光分析，绘制了系统东西方向和南北方向的点源透射率(PST)曲线并得到系统像面处的辐照度，从而为内遮光罩的杂散光抑制能力提供了量化的对比结果，便于内遮光罩进行优化设计。通过杂散光分析，并对内遮光罩的结构强度等参数进行有限元分析(FEA)校核，确定了该口径为320 mm的同轴两反光学系统的内遮光罩高度为100 mm，直径为44.8 mm，使得该遮光罩结构在满足空间遥感器力学性能的要求下达到杂散光抑制的最佳效果，实现了杂散光分析及基于结构FEA的优化设计。
成像系统 同轴两反光学系统 杂散光分析 点源透射率 内遮光罩
