通过时间相关单光子计数法检测含有杂质的植物油中的荧光光子的寿命, 通过其荧光寿命与纯净植物油的荧光寿命对比, 以此为依据可以鉴别出植物油中是否掺入其他油。此方法的优点在于利用荧光寿命检测方法不受光源波动、老化以及外界杂散光的影响, 而且只要植物油中掺入了其他有杂质的油就能被检测出来, 与掺入的油的浓度无关。因此荧光寿命测量对检测植物油的纯度表现出更好的检测精度及稳定性。实验结果也证明了荧光寿命法检测地沟油的方案具有可行性, 且样品处理步骤简单, 用于检测的用量少, 检测结果准确可靠。

介绍了上海光源XAFS线站(BL14W1)的时间分辨X射线激发发光光谱(TRXEOL)实验系统.该系统基于时间相关单光子计数法的原理设计,以同步辐射光源的脉冲特性及其良好的时间结构为基础,通过集成定时系统、光谱仪系统和核电子学系统,在国内同步辐射装置上首次实现了TRXEOL实验方法.定时系统提供同步触发电脉冲,用来标志X射线脉冲打到样品上的时刻,同步精度约6 ps,延时分辨率5 ps;光谱仪经光电探测器把样品发光信号转换成电脉冲,核电子学系统对定时电脉冲和发光电脉冲之间的时间差进行统计分析,可得到样品的发光衰减曲线,再结合光谱仪的扫描控制和数据获取系统,可得到样品的TRXEOL光谱.利用该实验系统可以测量发光样品的普通XEOL光谱、发光衰减曲线和TRXEOL光谱.用ZnO纳米线样品,进行了实验验证.实验得到的普通XEOL光谱能够明显区分该样品在390和500　nm处的两个发光中心;得到的发光衰减曲线能够区分小于2 ns的快发光过程和200 ns的慢发光过程;分别在0~1,2~200和0~200 ns时间窗口内测量得到了ZnO纳米线样品的TRXEOL光谱,在这3个发光时间带内得到了对应的发光信息;ZnO纳米线样品发光衰减曲线快发光峰的半高宽约为0.5 ns,证明了TRXEOL系统的最小时间分辨率小于1 ns.该系统在国内同步辐射装置上提供了用于研究发光材料的TRXEOL实验方法,该方法与发光模式的XAFS方法相结合,可更深入的研究发光材料的发光行为.整个实验平台操作简便、工作稳定可靠,不仅为发光材料的研究提供了研究手段,还为进一步开展发光模式XAFS和TRXEOL成像等实验方法提供技术前提.

讨论了一种新型而且简单的门控光子计数法,用来测量高散射介质的光学参量。当一束光脉冲入射到高散射介质后,该方法可以恢复出光脉冲经过散射后从介质表面逸出的波形。与传统的门控光子计数法相比,该方法利用计数器控制门可以移动的特点,通过滑动宽度为60 ns的控制门实现较高的时间分辨力200 ps。在此波形的基础上,Patterson Chance方法可以快速而且准确计算出被测介质的光学参量。在模型介质上的实验,验证了该方法的可行性,实验结果与复杂的时间相关的单光子计数加曲线拟合方法相比较,误差小于10%。