分别利用高密度电流和高温加热作为驱动力, 在不同试样中产生原子迁移现象, 并进行对比试验研究制备铝纳米线阵列的可行性。试验结果表明, 在局部区域利用高密度电流成功制备了铝纳米线阵列。由于试样制备过程中蚀刻工艺带来的误差, 导致电流密度相应变化, 使试样在部分区域出现了爆破现象。高温加热的试样表面产生了大量铝纳米颗粒, 但是由于原子迁移强度过低, 未能在对应试样中制备出铝纳米线阵列。

利用动力学晶格蒙特卡洛方法模拟了Cu薄膜在Cu(100)面上的三维生长过程.模型中考虑了四个动力学过程:原子沉积、增原子迁移、双原子迁移和台阶边缘原子迁移,各动力学过程发生的概率由多体势函数确定.讨论了基底温度、沉积速率及原子覆盖率对Cu原子迁移、成核和表面岛生长等微观生长机制的影响;获得了Cu薄膜的表面形貌图并计算了表面粗糙度.模拟结果表明,随基底温度升高或沉积速率下降,岛的平均尺寸增大,数目减少,形状更加规则.低温时,Cu薄膜表现为分形的离散生长,高温时,Cu原子迁移能力增强形成密集的岛.Cu薄膜表面粗糙度随着基底温度的升高而迅速减小;当基底温度低于某一临界温度时,表面粗糙度随原子覆盖率或沉积速率的增大而增大;当基底温度超过临界温度时,表面粗糙度随原子覆盖率或沉积速率的变化很小,基本趋于稳定.