1 中国农业大学食品科学与营养工程学院, 北京 100083
2 首都师范大学物理系北京市太赫兹波谱与成像重点实验室, 北京 100048
3 中国石油大学(北京)理学院, 北京 102249
以核桃为研究对象, 探讨太赫兹时域光谱技术对其变质情况、 壳厚测量的研究。 首先对虫蛀、 霉变、 正常核桃壳、 仁标样采集太赫兹时域光谱, 比较分析变质与正常核桃谱图及吸收谱差异, 为剔除变质核桃打下基础。 其次联用透射和反射式太赫兹时域光谱系统, 创建核桃壳计算公式, 在获取核桃壳理论折射率基础上, 换算得到未知核桃壳厚, 相对误差为3.7%。 分别从物理、 化学指标光谱响应特征差异入手, 实现太赫兹无损检测核桃品质。
太赫兹 核桃 变质 壳厚 Terahertz Walnut Deterioration Shell thickness 光谱学与光谱分析
2012, 32(12): 3390
