1 中国工程物理研究院 应用电子学研究所, 四川 绵阳 621900
2 国家X射线数字化成像仪器中心, 四川 绵阳 621000
X射线硬化是导致工业CT重建图像质量下降的物理原因之一。硬化伪影通常表现为两种形式, 即杯状伪影和带状伪影。描述并证实了硬化伪影的一种新型表现形式, 这种伪影与真实结构相关, 且分布规则, 容易造成伪影与真实结构的混淆。采用线性化校正方法对该伪影进行抑制, 提高了重建图像质量, 改善了通过CT重建图像进行几何测量的精度。
工业CT 射束硬化 杯状伪影 带状伪影 几何测量 industry CT beam hardening cupping artifact streak artifact dimensional metrology 强激光与粒子束
2016, 28(10): 104001
