1 中国科学院上海技术物理研究所, 上海 200083
2 长春理工大学 光电工程学院, 长春 130022
为满足紫外宽光谱大视场焦平面光学成像系统的设计要求, 研究了全反射施密特光学系统.分析了球面反射镜曲率中心波前, 推导了透射及反射施密特校正板方程.为避免光线被遮挡, 设计了离轴全反射施密特光学系统.在宽光谱(240~950nm)大视场(±5°)离轴全反射施密特系统中, 当λ=0.24 μm, u′m=5°时, Δf≤0.031 5 mm, 探测器控制在焦深范围内,光学系统成像质量达到了衍射极限.该施密特光学系统设计方法适用于宽波段高分辨率紫外成像系统.
光学设计 成像系统 波前 望远镜 紫外探测 非球面 宽光谱 大视场 施密特系统 Optical design Imaging systems Wavefronts Telescopes Ultraviolet detectors Aspherics Wide spectrum Large field of view Schmidt system 光子学报
2014, 43(11): 1122002
1 同济大学物理系非球面光学实验室，上海 200433
2 南通大学物理系，江苏 南通 226007
施密特系统历史悠久，过去从三级象差理论得到的校正板方程式，也一直被人们所认同，但是此方程经光学设计软件验证后，发现a≠1／2r02，其中r02为校正板的顶点曲率半径，∑S1≠0，系统的焦距和后截距也有一定的偏差，与三级像差理论不符。经过分析，发现原来从三级像差理论推导出的校正板方程式没有考虑到离焦后焦距的变化。实际上离焦后的焦距为f△=f+△。按三级像差理论重新推导可以得到新的施密特校正板方程式。由光学设计软件验证，得到a=1／2r02，∑S1=0，这与三级像差理论相符合，说明新的施密特校正板方程式是正确的。
几何光学 校正板方程 施密特系统 三级像差理论 geometric optics equation of the corrector plate Schmidt system third-order aberration theory
