张球 1,2,*梁东 2白丽华 1刘军 2,*
作者单位
摘要
1 上海大学理学院物理系, 上海 200444
2 中国科学院上海光学精密机械研究所强场激光物理国家重点实验室, 上海 201800
利用4f(f为焦距)系统和电子耦合器件相机跟踪样品的位置,通过纳米平移台对机械漂移进行了补偿,使样品始终处于光片的束腰位置,从而获得了最优图像。所提方法可以对几纳米的机械偏移进行补偿。使用自主搭建的光片荧光显微镜对直径为几微米的荧光微球进行了长时间成像,验证了所提方法的可行性。
成像系统 光片荧光显微镜 机械偏移 4f系统 补偿 最优图像 
中国激光
2019, 46(4): 0407001

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