基于同步光的干涉法，是一种非拦截高精度的束流截面测量手段。相比传统成像法，干涉法可以测量更小的束团尺寸、分辨率更好，较短测量波长下有望获得亚μm级的分辨率，因此在同步辐射光源中得到广泛应用。对合肥光源HLS II的原有同步光干涉装置，提出了将原有的干涉光路中第一面聚焦透镜换成RC结构聚焦反射镜，第二面单透镜换成双胶合透镜，以达到在不改变光路光轴情况下减小色散和几何像差，从而提高光路成像质量的目的。采用几何光路设计方法对成像质量进行评价，并进行物理光学仿真计算，得到测量系统的干涉条纹。仿真结果表明：光学系统成像的艾里斑半径减小约35%，点列图的均方根半径减小了约99%，波前差也减小了约75%，调制传递函数（MTF）的截止频率提高了约65%，采用聚焦反射镜代替原有的聚焦透镜可大幅提升光路成像质量。