及时发现并剔除异常光谱对于提高近红外光谱分析的可靠性具有重要意义。 首先介绍了基于正交距离的稳健主成分分析法判断异常光谱的原理, 分析了该方法的局限性, 在此基础上提出了一种基于简化正交距离的异常光谱判断方法, 即以高浓度样品的光谱直接估计第一稳健主成分, 再通过重复测量估计正交距离的统计参数来判断异常光谱。 最后, 采用上述两种方法对葡萄糖水溶液和2% Intralipid仿体溶液透射实验中受温度影响的异常光谱进行了判别。 结果表明, 基于正交距离的稳健主成分分析法, 当崩溃值设定为40%时, 葡萄糖水溶液和仿体溶液实验中受温度影响的异常光谱均能被正确识别； 当崩溃值设定为25%时, 对葡萄糖水溶液和仿体溶液实验中受温度影响的异常光谱漏判率分别为54.5%和72.7%。 而简化正交距离法可以准确识别出葡萄糖水溶液和仿体溶液实验中受温度干扰的异常光谱, 且具有无需预先设定崩溃值和测量持续时间较短等优点。 因此, 简化正交距离法在实际应用中相比基于正交距离的稳健主成分分析法有着显著的优势。

为了通过测量齿面拓扑轮廓来获取特征线误差, 提出了一种基于正交距离回归齿面的误差计算方法。 对该方法涉及的实际齿面与理论齿面匹配算法、拓扑轮廓误差的计算与分解及齿面特征线误差的评定算法进行了研究。首先, 通过坐标测量方法获取的齿面拓扑数据, 建立包含回归齿面参数的非线性方程。然后, 求解非线性方程得到回归齿面参数的最优近似解, 从而得到与实际齿面匹配的理论齿面, 拓扑测量点相对理论齿面的正交距离即为齿面拓扑误差。最后, 基于齿轮误差多自由度理论, 对实际齿面进行局部自由度及全局自由度回归, 进一步分解出齿面的齿廓误差和螺旋线误差。以一标准圆柱直齿轮的齿面拓扑测量点数据为例进行了误差计算, 结果显示: 计算的结果与直接进行特征线测量的结果差值小于0.5 μm, 表明提出的基于正交距离回归齿面进行齿轮误差评定的方法是有效的, 可以应用于坐标类仪器检测齿轮误差。