CsI(Tl)闪烁体是X光转换为可见光比较重要的一个部件,在惯性约束聚变中的X 光诊断等方面有着十分重要的应用。通过Geant4软件较为全面地分析了CsI(Tl)闪烁体软X光能量响应,模拟了1~5 keV的软X光入射不同厚度（20,30,50 μm）CsI(Tl)的能量沉积谱,探究了粒子之间相互作用的物理过程,并比较了不同能量软X光在不同厚度CsI(Tl)闪烁体中的沉积效率。仿真结果表明,随着CsI (Tl)闪烁体厚度的增加,软X光在CsI (Tl)闪烁体中沉积的能量也逐渐增加,沉积效率与CsI (Tl)闪烁体厚度成正比。模拟研究为选择合适厚度的闪烁体做低能段软X光探测实验做铺垫。

通过蒙特卡罗模拟和实验测量相结合的方法，获得从50 keV～10 MeV区间γ射线在直径为30 mm内充1.013 25 MPa氢气的球形含氢正比计数管上的能量响应，结果显示，γ射线在该计数管中的能量沉积主要集中在100 keV附近及以下。Am-Be中子源和137Cs源的实验测量结果显示，强137Cs源的γ射线会严重影响含氢正比计数管对Am-Be中子源100 keV以下能谱的测量，这表明，裂变材料介质内的强γ射线同样会影响到介质内100 keV以下中子能谱的测量。根据计数管对反冲质子和电子电离信号的收集特性，采用上升时间法甄别掉本底γ射线是可行的。

利用Geant4程序计算了多种不同组合CR39叠层探测器的中子能量响应函数，研究结果表明，中子能量响应函数曲线的半高宽和探测下限分别由聚乙烯的厚度和吸收片的厚度决定，峰值由聚乙烯和吸收片的厚度共同决定。利用加速器准单能氘氘中子源进行辐照实验，获得了4种不同叠层组合探测器的2.45 MeV中子探测效率，并与计算曲线进行了比较，结果吻合较好，验证了Geant4程序计算结果的可靠性。

对三台单光子计数CCD的能量响应特性和探测效率进行实验标定。采用标准放射源对CCD进行照射，将CCD图像进行统计处理后，得到CCD的能量响应曲线。响应曲线近似为线性，不同的CCD响应曲线斜率明显不同。编写了MATLAB程序对多像素事件进行处理，获得CCD的探测效率曲线。在不同的能点处，CCD的探测效率明显不同，在5.1 keV附近探测效率达到最大值。标定结果与XOP软件计算得到的吸收效率理论结果比较一致。该标定结果可用于超强激光打靶产生的Kα荧光光子产额和能谱的定量精确处理。

以开展能量响应平坦的真空康普顿探测器为目的，采用厚薄材料叠加补偿设计思想，使用蒙特卡罗方法，对真空康普顿探测器的灵敏度能量响应进行了优化设计。优化的探测器系统采用0.01,1.00 mm厚Au叠加的发射极，3 mm厚Fe前窗以及3 mm挡铅。在40 mm准直下，实现了在0.4~7.0 MeV γ能区内，探测器本征灵敏度极值变化小于10.7%。该能量响应平坦性优于当前各种常见的γ探测器。

采用高温熔融法制备了Tb3+掺杂硅酸盐闪烁玻璃, 并测量了该闪烁玻璃对5～80 keV 硬X射线的能量响应。 结果表明: 硅酸盐闪烁玻璃的光电流对不同光子能量X射线的响应是非线性的, 尤其在8和50 keV附近, 其非线性变化较明显, 这种现象与闪烁玻璃吸收X射线后产生大量光电子及其对电子的能量响应有关系。 在73.38 keV处, 硅酸盐闪烁玻璃的光输出是ST401的3.41倍。

在Z-pinch实验物理诊断中使用底片记录1维时空分辨X光功率图像,利用模拟底片能量响应曲线对实验获得的X光功率图像进行了变换,以闪烁体X光功率谱仪获得的X光波形为参考,将变换后的图像沿空间轴积分,并将所得波形与参考波形相比较,两条曲线基本一致,表明所使用的模拟能量响应曲线具有较好的近似效果.

介绍了单光子计数型CCD的工作原理.实验选择参数准确的X射线放射源前向辐照CCD的像元面,计数由此产生;通过积分获得X射线的强度分布,在CCD处于单光子计数状态下,扣除本底信号,得到该型CCD产生一个计数所需的光子能量,约6.453 eV.标定了该型CCD的探测效率.结果表明:在单光子计数型CCD的有效能区内,对于不同能量的入射光子,其探测效率不同,在5.3 keV处获得最高探测效率66%;随着能量的增大,探测效率降低.标定结果可为激光等离子体研究中定量测量X射线光谱提供实验参考.