1 中国科学技术大学 精密机械与精密仪器系， 合肥 230026
2 中国科学院光电研究院 计算光学成像技术重点实验室，北京 100094
计算光谱成像技术相比较传统光谱成像技术具有高通量、快照成像等优点，但由于色散元件的存在，同样受到谱线弯曲的影响.为了研究谱线弯曲对计算光谱成像系统信号采集、图谱混叠与重构结果的影响，结合系统原理及重构算法，分析计算了不同谱线偏移量下系统重构图像的相对峰值信噪比及复原光谱曲线的最大偏差.实验结果表明，谱线弯曲引起的探测器采样信号的光谱偏离会导致图谱混叠程度的变化，与没有谱线弯曲的情况相比，重构结果出现明显的偏差，复原光谱曲线两侧趋于平滑.对于光谱分辨率为10 nm的计算光谱成像系统，为了高准确度的复原目标场景，谱线弯曲引起的光谱偏移量应控制在半个像元以内.
计算成像 光谱成像 色散元件 谱线弯曲 峰值信噪比 Computational imaging Imaging spectrometry Dispersive element Spectral line bending Peak SignaltoNoise Ratio(PSNR)
1 同济大学精密光学工程技术研究所,物理系,上海,200092
2 聊城大学教育技术系,山东,聊城,252059
具有缺陷的一维光子晶体结构中,群速度延迟在缺陷模处会发生突变,从而共振隧穿的光波会发生大的测向位移.将具有多个缺陷的一维光子晶体作为色散元件,设计了能够将两通道和三通道滤光片在斜入射条件下进行波长空间分离的空间滤波器.该空间滤波器具有制备简单、能够同时进行多路空间滤波的特点.
光子晶体 缺陷模 色散元件 空间滤波器
中国科学院长春光学精密机械研究所应用光学国家重点实验室, 长春 130022
介绍研制软X射线多层膜色散元件的初步结果.结合M0/S1、W/Si色散元件的研制实例,讨论了包括设计、性能模拟计算、镀膜工艺、检测等在内的制备过程.这些元件将在Ｘ射线光学和Ｘ射线光谱学的有关研究工作中得到应用.
软X射线 多层膜技术 色散元件
