由于空间光环境的复杂性，抑制杂散光对保证空间相机成像性能尤其重要，该文针对宽光谱波段成像的空间探测相机光学系统进行杂散光分析和抑制优化设计。通过SOLIDWORKS和TracePro的无损式数据交互建立光机模型，并从光机材料的表面特性、机械结构、镜片透过率等多角度优化杂散光模型，再利用朗伯体光源分别对正反向进行光线追迹，然后结合光机模型的半剖图对系统关键表面进行重点取样分析。分析结果表明：优化后的光机系统在离轴角10.3°~15.4°内，点源透过率值与优化前的系统相比下降了66%~99.4%，在离轴角大于14.2°时点源透过率值接近10^?4量级，在离轴角18.4°处杂散光的点源透过率约为10^?4量级。最后通过鬼像实验，进一步证明了优化后的光机系统设计方法具有良好的杂散光抑制效果。

针对日冕仪中对杂散光的抑制要求，分析了日冕仪系统中的三种杂散光，包括日冕仪物镜二次反射产生的鬼像点、日冕仪物镜散射点、以及日冕仪孔径光阑衍射光。利用光学建模软件对日冕仪系统进行仿真和分析，发现这三种杂散光的成像位置十分接近且不易区分，并会对系统的检测过程和检测结果产生干扰。根据仿真结果，给出了这三种杂散光的判定与抑制方法，并利用一台视场为±1.08 R_⊙~±2.5 R_⊙（R_⊙表示太阳半径），工作波段为530.3~637.4 nm，通光口径为220 mm，系统总长为4 321 mm的内掩式日冕仪进行了理论验证和实验对比，验证了判定方法的可行性。同时设计了掩体和鬼像遮拦结构对杂散光进行抑制，增加了日冕仪系统杂散光抑制的选择方案，提升了日冕仪杂散光检测的准确率。

随着空间光学技术的快速发展以及光电探测器件性能的不断提升，高分辨率、多光谱、低探测阈值的遥感系统在航空、航天等领域的应用越来越广泛，对光电载荷的杂光抑制能力与评价指标逐渐严苛，杂散光抑制技术和仿真分析已成为不可缺少的环节之一。尽管杂散光的抑制与评估技术开展较早，但仍然需要系统性方法体系引领该技术的发展，以改变当前分散化、碎片化的研究现状。因此，需要建立一体化的杂散光抑制与评估方法体系，在杂散光抑制方案制订、抑制模型表面特性测量与建模、杂散光抑制效果仿真、杂散光测试及评估等四个关键技术模块进行深入研究。本文给出了一套整体技术路线，为更好推进杂散光抑制与评估技术的发展和应用提供思路。