光子学报, 2007, 36 (11): 2053, 网络出版: 2008-07-08
遗传算法在薄膜特性参量测量中的应用
The Application of Genetic Algorithm in Thin Film Characters Measurement
基本信息
DOI: | -- |
中图分类号: | O484.5 |
栏目: | 薄膜光学 |
项目基金: | -- |
收稿日期: | 2006-06-12 |
修改稿日期: | -- |
网络出版日期: | 2008-07-08 |
通讯作者: | |
备注: | -- |
宫兴致, 陈燕平, 刘玉玲, 余飞鸿. 遗传算法在薄膜特性参量测量中的应用[J]. 光子学报, 2007, 36(11): 2053. 宫兴致, 陈燕平, 刘玉玲, 余飞鸿. The Application of Genetic Algorithm in Thin Film Characters Measurement[J]. ACTA PHOTONICA SINICA, 2007, 36(11): 2053.