光子学报, 2007, 36 (11): 2053, 网络出版: 2008-07-08
遗传算法在薄膜特性参量测量中的应用
The Application of Genetic Algorithm in Thin Film Characters Measurement
图 & 表
宫兴致, 陈燕平, 刘玉玲, 余飞鸿. 遗传算法在薄膜特性参量测量中的应用[J]. 光子学报, 2007, 36(11): 2053. 宫兴致, 陈燕平, 刘玉玲, 余飞鸿. The Application of Genetic Algorithm in Thin Film Characters Measurement[J]. ACTA PHOTONICA SINICA, 2007, 36(11): 2053.