光学 精密工程, 2020, 28 (1): 50, 网络出版: 2020-03-25
荧光成像技术无损探测光学元件亚表面缺陷
Nondestructive detection of optics subsurface defects by fluorescence image technique
基本信息
| DOI: | 10.3788/ope.20202801.0050 |
| 中图分类号: | O433.2;TN247 |
| 栏目: | 现代应用光学 |
| 项目基金: | 等离子体物理国家重点实验室基金资助项目(No.6142A0403010417)、 国家自然科学基金资助项目(No.11704352) |
| 收稿日期: | 2019-04-03 |
| 修改稿日期: | 2019-05-19 |
| 网络出版日期: | 2020-03-25 |
| 通讯作者: | 刘红婕 (hongjie3713@163.com) |
| 备注: | -- |
刘红婕, 王凤蕊, 耿峰, 周晓燕, 黄进, 叶鑫, 蒋晓东, 吴卫东, 杨李茗. 荧光成像技术无损探测光学元件亚表面缺陷[J]. 光学 精密工程, 2020, 28(1): 50. LIU Hong-jie, WANG Feng-rui, GENG Feng, ZHOU Xiao-yan, HUANG Jin, YE Xin, JIANG Xiao-dong, WU Wei-dong, YANG Li-ming. Nondestructive detection of optics subsurface defects by fluorescence image technique[J]. Optics and Precision Engineering, 2020, 28(1): 50.
PDF全文
