光学 精密工程, 2020, 28 (1): 50, 网络出版: 2020-03-25
荧光成像技术无损探测光学元件亚表面缺陷
Nondestructive detection of optics subsurface defects by fluorescence image technique
荧光成像技术 亚表面缺陷 激光损伤 熔石英 KDP晶体 fluorescence image technique subsurface defects laser induced damage fused silica KDP crystal
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