激光技术, 2010, 34 (5): 643, 网络出版: 2011-02-15
532 nm激光对面阵和线阵CCD损伤效应实验研究
Experimental study on 532nm laser-induced failure of array and linear CCD
基本信息
DOI: | -- |
中图分类号: | TN977 |
栏目: | |
项目基金: | -- |
收稿日期: | 2009-09-18 |
修改稿日期: | 2009-10-23 |
网络出版日期: | 2011-02-15 |
通讯作者: | 孙年春 (8178137@163.com) |
备注: | -- |
廖海, 孙年春, 冯国英, 周传明. 532 nm激光对面阵和线阵CCD损伤效应实验研究[J]. 激光技术, 2010, 34(5): 643. LIAO Hai, SUN Nian-chun, FENG Guo-ying, ZHOU Chuan-ming. Experimental study on 532nm laser-induced failure of array and linear CCD[J]. Laser Technology, 2010, 34(5): 643.